位置测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202010651930.9

申请日：

2020-07-08

公开(公告)号：

CN112197727A

公开(公告)日：

2021-01-08

发明(设计)人：

T.贝克 J.米特莱特纳 W.普克尔

申请人：

申请人地址：

德国特劳恩罗伊特

IPC主分类号：

G01B2104

IPC分类号：

G01D5347 B23Q1700

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司 72001

代理人：

梁冰;司昆明

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-08	公开	公开
2022-05-06	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 21/04 申请日:20200708

共 50 条

[1]

位置测量装置 [P].

T.贝克 ;

J.米特莱特纳 ;

W.普克尔 .

德国专利 :CN112197727B ,2024-10-08

[2]

位置测量装置和带有多个位置测量装置的组件 [P].

W.霍尔萨普费尔 ;

J.德雷舍尔 ;

M.迈斯纳 ;

R.约尔格 ;

B.穆施 ;

T.克尔贝雷尔 .

中国专利 :CN103245288A ,2013-08-14

[3]

光学位置测量装置 [P].

M.迈斯纳 ;

W.霍尔萨普费尔 .

中国专利 :CN103884276A ,2014-06-25

[4]

位置测量装置 [P].

M·赫尔曼 .

中国专利 :CN101308013B ,2008-11-19

[5]

位置测量装置 [P].

鲁道夫·米特曼 ;

英戈·约阿希姆斯塔勒 .

中国专利 :CN104142893B ,2014-11-12

[6]

位置测量装置 [P].

贾森·肯普顿·斯拉克 ;

J·A·克拉夫 .

中国专利 :CN114729824A ,2022-07-08

[7]

位置测量装置 [P].

H·哈雷尔 .

中国专利 :CN1330942C ,2004-10-13

[8]

位置测量装置 [P].

W·霍尔查普菲尔 .

中国专利 :CN100554868C ,2007-01-10

[9]

位置测量装置 [P].

帕斯卡尔·海贝尔 .

中国专利 :CN104596407A ,2015-05-06

[10]

位置测量装置 [P].

王伟华 .

中国专利 :CN222761595U ,2025-04-15

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