分光测定器

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专利类型
发明
申请号
CN202080046919.8
申请日
2020-06-26
公开(公告)号
CN114026407A
公开(公告)日
2022-02-08
发明(设计)人
鹤谷克敏
申请人
申请人地址
日本国东京都千代田区丸之内2-7-2
IPC主分类号
G01N2131
IPC分类号
代理机构
北京正理专利代理有限公司 11257
代理人
付生辉
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
分光反射测定器 [P]. 
五味二夫 .
中国专利 :CN110018127A ,2019-07-16
[2]
测定器 [P]. 
志牟田亨 ;
高木纯 .
中国专利 :CN113194819A ,2021-07-30
[3]
测定器 [P]. 
高木纯 ;
高桥智纪 ;
仓持美惠 ;
富樫浩明 ;
田中坚志 .
中国专利 :CN113347918A ,2021-09-03
[4]
测定器 [P]. 
志牟田亨 ;
高木纯 .
日本专利 :CN113194819B ,2024-03-29
[5]
测定器 [P]. 
高木纯 ;
高桥智纪 ;
富樫浩明 ;
田中坚志 .
中国专利 :CN113365549A ,2021-09-07
[6]
测定器 [P]. 
有马大贵 ;
佐藤大 ;
成濑峻 .
日本专利 :CN119534868A ,2025-02-28
[7]
测定器 [P]. 
庭野敦也 .
中国专利 :CN107677173A ,2018-02-09
[8]
测定器 [P]. 
高木纯 ;
高桥智纪 ;
仓持美惠 ;
富樫浩明 ;
田中坚志 .
日本专利 :CN113347918B ,2025-02-21
[9]
测定器 [P]. 
高木纯 ;
田中坚志 ;
高桥智纪 .
中国专利 :CN113994175A ,2022-01-28
[10]
测定器 [P]. 
高木纯 ;
田中坚志 ;
高桥智纪 .
日本专利 :CN113994175B ,2025-03-14