树脂涂敷设备、光学特性校正设备和光学特性校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010266370.1

申请日：

2010-08-27

公开(公告)号：

CN102000657B

公开(公告)日：

2011-04-06

发明(设计)人：

尹相福严海龙刘美花洪承珉李相勋金容九

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道水原市

IPC主分类号：

B05C1110

IPC分类号：

G01J346 G01J900 G01M1102 H01L3300

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

韩明星;李娜娜

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-12-26	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101488980975 IPC(主分类):B05C 11/10 专利申请号:2010102663701 变更事项:申请人变更前权利人:三星LED株式会社变更后权利人:三星电子株式会社变更事项:地址变更前权利人:韩国京畿道水原市变更后权利人:韩国京畿道水原市登记生效日:20121122
2011-05-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101072512851 IPC(主分类):B05C 11/10 专利申请号:2010102663701 申请日:20100827
2011-04-06	公开	公开
2015-03-11	授权	授权

共 50 条

[1]

光学特性测定系统以及光学特性测定系统的校正方法 [P].

大泽祥宏 ;

水口勉 ;

野口宗裕 .

中国专利 :CN106338469A ,2017-01-18

[2]

光学校正方法和光学校正系统 [P].

维亚切斯拉夫·夏伊斯金 .

加拿大专利 :CN117496922A ,2024-02-02

[3]

用于光学测量装置的校正设备及校正方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

中国专利 :CN104949620B ,2015-09-30

[4]

光学特性测量方法、装置及设备 [P].

欧兴涛 ;

杨城 ;

汤深富 ;

白绳武 .

中国专利 :CN118706404A ,2024-09-27

[5]

校正设备、输出设备和校正方法 [P].

高石真也 ;

高桥和幸 ;

田代阳介 ;

富永佳央理 .

中国专利 :CN105915756B ,2016-08-31

[6]

光学特性測定システムの校正方法[ja] [P].

日本专利 :JP6681632B2 ,2020-04-15

[7]

缺陷校正设备和缺陷校正方法 [P].

大庭博明 .

中国专利 :CN103959108A ,2014-07-30

[8]

图像校正方法和图像校正设备 [P].

焦继乐 ;

范伟 ;

孙俊 .

中国专利 :CN106611406A ,2017-05-03

[9]

寄生流量校正方法和校正设备 [P].

阿列克谢·V·斯米尔诺夫 .

日本专利 :CN114174706B ,2024-07-26

[10]

寄生流量校正方法和校正设备 [P].

阿列克谢·V·斯米尔诺夫 .

中国专利 :CN114174706A ,2022-03-11

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