胎压芯片测试装置及胎压芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721697524.6

申请日：

2017-12-07

公开(公告)号：

CN207439605U

公开(公告)日：

2018-06-01

发明(设计)人：

颜承浩郑晓明

申请人：

申请人地址：

214000 江苏省无锡市滨湖区高浪东路999-8-C1-201

IPC主分类号：

G01L2700

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371

代理人：

刘锋

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01L 27/00 申请日:20171207 授权公告日:20180601 终止日期:20191207
2018-06-01	授权	授权

共 50 条

[1]

胎压芯片测试装置及胎压芯片测试系统 [P].

颜承浩 ;

郑晓明 .

中国专利 :CN107907271A ,2018-04-13

[2]

一种胎压芯片测试装置 [P].

王筠盛 ;

葛家铭 ;

段炎 ;

刘福川 .

中国专利 :CN117990266A ,2024-05-07

[3]

芯片测试系统及芯片测试装置 [P].

焦继业 ;

刘俊波 ;

李辉 ;

王暾烜 .

中国专利 :CN217766725U ,2022-11-08

[4]

芯片测试压块组件、芯片测试夹具及芯片测试装置 [P].

冯恒超 ;

杨小明 .

中国专利 :CN118294703A ,2024-07-05

[5]

一种芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

赵山 ;

黄建军 ;

吴永红 ;

陈建丛 ;

孙钦华 .

中国专利 :CN222353963U ,2025-01-14

[6]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

中国专利 :CN112802536A ,2021-05-14

[7]

芯片测试装置及芯片测试系统 [P].

蔡振龙 ;

基因·罗森塔尔 .

美国专利 :CN112802536B ,2024-09-13

[8]

芯片测试装置、芯片测试系统及芯片测试方法 [P].

谢媛媛 ;

张智 ;

沈忠丽 .

中国专利 :CN120559431A ,2025-08-29

[9]

胎压测试系统 [P].

李辉 ;

郭成杰 ;

周杰 ;

杨灿辉 ;

胡可润 ;

刘加达 ;

王明雷 ;

张卢一凡 ;

谢晓晖 .

中国专利 :CN221945438U ,2024-11-01

[10]

芯片压接测试的压头组件及芯片压接测试装置 [P].

史磊 ;

丁建军 .

中国专利 :CN120522422A ,2025-08-22

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