一种基于MIPI接口液晶模组的老化测试转化装置及老化测试系统

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201820040043.6
申请日
2018-01-10
公开(公告)号
CN207852280U
公开(公告)日
2018-09-11
发明(设计)人
刘谋辉 萧富昇 王长宗
申请人
申请人地址
519000 广东省珠海市香洲区南屏科技工业园屏东二路8号C栋、大型装配车间
IPC主分类号
G09G300
IPC分类号
G02F113
代理机构
深圳市道臻知识产权代理有限公司 44360
代理人
陈琳
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
液晶模组老化测试系统 [P]. 
彭骞 ;
袁帅 ;
徐梦银 ;
肖家波 ;
胡磊 ;
陈凯 ;
沈亚非 .
中国专利 :CN204086738U ,2015-01-07
[2]
接口扩展模组、老化测试系统、老化测试方法及存储介质 [P]. 
汝峰 ;
徐晓东 ;
裴聪健 ;
冯宇飞 .
中国专利 :CN108919006A ,2018-11-30
[3]
一种液晶模组老化测试系统 [P]. 
张登琦 ;
张郁川 ;
李璟林 .
中国专利 :CN114563882A ,2022-05-31
[4]
液晶显示模组老化测试系统 [P]. 
郭晶晶 ;
张文静 .
中国专利 :CN105304000B ,2016-02-03
[5]
液晶显示模组老化测试系统 [P]. 
刘胜利 ;
周永超 .
中国专利 :CN105093589B ,2015-11-25
[6]
液晶显示模组老化测试系统 [P]. 
马志鹏 ;
雷雪梅 .
中国专利 :CN105427773A ,2016-03-23
[7]
液晶模组的老化测试板 [P]. 
徐潜蛟 .
中国专利 :CN206236400U ,2017-06-09
[8]
一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统 [P]. 
杨成华 .
中国专利 :CN114490214A ,2022-05-13
[9]
一种老化测试接口扩展模块和老化测试系统 [P]. 
杨成华 .
中国专利 :CN114490214B ,2025-04-01
[10]
一种液晶模组老化测试装置 [P]. 
邹翔 .
中国专利 :CN209879188U ,2019-12-31