膏体外观缺陷检测设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020333588.3

申请日：

2020-03-17

公开(公告)号：

CN212180649U

公开(公告)日：

2020-12-18

发明(设计)人：

田光亚

申请人：

申请人地址：

100083 北京市海淀区清华东路9号创达大厦1层101-105室（东升地区）

IPC主分类号：

G01N21892

IPC分类号：

G01N21894 G01N2189 G01N2188

代理机构：

北京竹辰知识产权代理事务所(普通合伙) 11706

代理人：

陈龙

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-18	授权	授权

共 50 条

[1]

膏体外观缺陷检测设备及方法 [P].

田光亚 .

中国专利 :CN111239142A ,2020-06-05

[2]

外观缺陷检测设备 [P].

张听荣 ;

胡益旻 ;

武新文 .

中国专利 :CN223513121U ,2025-11-04

[3]

产品外观缺陷检测设备 [P].

彭昊 .

中国专利 :CN205388577U ,2016-07-20

[4]

轮胎外观缺陷检测设备 [P].

郑飞 ;

王云明 ;

许芝光 ;

张传义 ;

张广平 ;

陈珊珊 ;

周栋 ;

张景宣 .

中国专利 :CN221123262U ,2024-06-11

[5]

六面体外观缺陷检测设备 [P].

吴涵标 ;

宛兴旺 ;

陈虞涛 ;

邓子强 ;

邓武 ;

杨洋 .

中国专利 :CN223382064U ,2025-09-26

[6]

一种养生膏膏体外观缺陷检测装置 [P].

陈明明 ;

徐国春 ;

周正文 ;

王先生 .

中国专利 :CN120668668A ,2025-09-19

[7]

外观缺陷检测设备 [P].

陈祖华 ;

袁璐奇 .

中国专利 :CN216955765U ,2022-07-12

[8]

一种半导体外观缺陷检测设备 [P].

王思懿 ;

王学东 .

中国专利 :CN220795079U ,2024-04-16

[9]

壳体外观检测设备 [P].

朱文兵 ;

池明旻 ;

袁静丰 ;

汪炉生 ;

柳洪哲 ;

罗时帅 ;

柳云鸿 ;

钱根 .

中国专利 :CN222636083U ,2025-03-18

[10]

膏体表面气孔自动检测设备 [P].

田光亚 .

中国专利 :CN212180650U ,2020-12-18

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