测试激励生成方法、测试方法、电子设备、存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110243353.4

申请日：

2021-03-04

公开(公告)号：

CN113050547B

公开(公告)日：

2021-06-29

发明(设计)人：

李铁峰单丽刘伟

申请人：

申请人地址：

230088 安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地B1楼9层北

IPC主分类号：

G05B19416

IPC分类号：

G06N300

代理机构：

北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112

代理人：

彭瑞欣;姜春咸

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-25	授权	授权
2022-01-14	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G05B 19/416 变更事项:申请人变更前:合肥宏晶微电子科技股份有限公司变更后:宏晶微电子科技股份有限公司变更事项:地址变更前:230088 安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地B1楼9层北变更后:230088 安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地B1楼9层北
2021-06-29	公开	公开
2021-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G05B 19/416 申请日:20210304

共 50 条

[1]

测试文件生成方法、算子测试方法、电子设备与存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118760609A ,2024-10-11

[2]

测试文件生成方法、算子测试方法、电子设备与存储介质 [P].

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118760609B ,2024-11-26

[3]

测试用例的生成方法、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

张涛 ;

李宏铭 .

中国专利 :CN115373988A ,2022-11-22

[4]

测试用例自动生成方法、测试方法、电子设备及存储介质 [P].

邹建峰 ;

刘金涛 .

中国专利 :CN118550838A ,2024-08-27

[5]

生成方法、测试方法、电子设备、存储介质及程序产品 [P].

侯晓宇 .

中国专利 :CN119621587A ,2025-03-14

[6]

测试序列生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

舒伟 ;

胡宏振 ;

马晨晖 ;

董汉 ;

陈超 ;

王晓萌 .

中国专利 :CN117539765A ,2024-02-09

[7]

测试环境生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张婷 .

中国专利 :CN114385497A ,2022-04-22

[8]

测试范围生成方法、电子设备、存储介质与产品 [P].

周付平 .

中国专利 :CN120631765A ,2025-09-12

[9]

测试程序生成方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN111198787B ,2020-05-26

[10]

测试挡板生成方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

赵继光 .

中国专利 :CN117743161A ,2024-03-22

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