一种微位移测试系统用RMS转换电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510829852.6

申请日：

2015-11-25

公开(公告)号：

CN105515406A

公开(公告)日：

2016-04-20

发明(设计)人：

李荣正李慧妍姜彪

申请人：

申请人地址：

201620 上海市松江区龙腾路333号

IPC主分类号：

H02M704

IPC分类号：

代理机构：

上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241

代理人：

屠轶凡

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-07-03	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H02M 7/04 申请公布日:20160420
2016-05-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101660901829 IPC(主分类):H02M 7/04 专利申请号:2015108298526 申请日:20151125
2016-04-20	公开	公开

共 50 条

[1]

一种微位移测试系统用AD转换电路 [P].

李荣正 ;

戴国银 ;

陈学军 .

中国专利 :CN204761416U ,2015-11-11

[2]

一种微位移测试系统 [P].

李荣正 ;

姜彪 ;

陈学军 .

中国专利 :CN105486212A ,2016-04-13

[3]

一种微位移测试用仪表放大电路 [P].

李荣正 ;

陈学军 ;

李慧妍 .

中国专利 :CN105509626A ,2016-04-20

[4]

一种微位移测试系统用微处理器外围电路 [P].

李荣正 ;

戴国银 ;

李慧妍 .

中国专利 :CN105487954A ,2016-04-13

[5]

一种微位移测试系统用电源 [P].

李荣正 ;

陈学军 ;

戴国银 .

中国专利 :CN104796014A ,2015-07-22

[6]

微位移测试系统 [P].

杜秋月 ;

余跃庆 .

中国专利 :CN105606031A ,2016-05-25

[7]

一种无线位移测试系统 [P].

弓俊青 ;

郭春红 ;

雷振山 .

中国专利 :CN202511759U ,2012-10-31

[8]

一种微位移测试系统用电源高频变压器绕制方法 [P].

李荣正 ;

姜彪 ;

李慧妍 ;

陈学军 ;

戴国银 .

中国专利 :CN104795217B ,2015-07-22

[9]

通用IF转换电路测试系统 [P].

王贵刚 ;

杨名军 ;

辛瑞红 ;

王镇 .

中国专利 :CN204882817U ,2015-12-16

[10]

一种并联可回收式侧向位移测试系统 [P].

褚伟洪 ;

蒋才荣 ;

戴加东 ;

关键 ;

张晓沪 ;

刘丹 ;

赵自强 ;

陈卫南 .

中国专利 :CN106759545A ,2017-05-31

← 1 2 3 4 5 →