用于光谱发射率测量的黑体与试样一体式加热装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620119235.7

申请日：

2016-02-07

公开(公告)号：

CN205388566U

公开(公告)日：

2016-07-20

发明(设计)人：

张宇峰戴景民张庆国付莹刘安业胡卫星楚春雨

申请人：

申请人地址：

121013 辽宁省锦州市松山新区科技路19号

IPC主分类号：

G01N2101

IPC分类号：

G01N2125 G01J328

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

崔艳姣

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-07-20	授权	授权
2018-02-27	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20160207 授权公告日:20160720 终止日期:20170207

共 50 条

[1]

用于光谱发射率测量的黑体与试样一体式加热装置及方法 [P].

张宇峰 ;

戴景民 ;

张庆国 ;

付莹 ;

刘安业 ;

胡卫星 ;

楚春雨 .

中国专利 :CN106979926A ,2017-07-25

[2]

黑体样品一体式发射率测量装置 [P].

李龙飞 ;

于坤 ;

刘玉芳 ;

张凯华 ;

张飞麟 ;

张峰 .

中国专利 :CN205246576U ,2016-05-18

[3]

一种用于高温粒子幕光谱发射率测量的加热装置 [P].

杨理理 ;

黄冠 ;

詹叶圳 .

中国专利 :CN113447403B ,2021-09-28

[4]

一种材料光谱发射率测量装置 [P].

高水静 ;

彭雷 .

中国专利 :CN205027658U ,2016-02-10

[5]

一种材料光谱发射率测量装置 [P].

李宇航 ;

占春连 .

中国专利 :CN223449794U ,2025-10-17

[6]

一种宽温区方向光谱发射率测量装置 [P].

郝小鹏 ;

宋健 ;

徐春媛 .

中国专利 :CN117740154A ,2024-03-22

[7]

用于发射率测量的三腔黑体辐射源 [P].

孙坚 ;

章龙飞 ;

赵泉钦 ;

陈乐 ;

钟绍俊 ;

崔志尚 .

中国专利 :CN102829875A ,2012-12-19

[8]

一种用于发射率测量的三腔黑体辐射源 [P].

章龙飞 ;

孙坚 ;

赵泉钦 ;

陈乐 ;

钟绍俊 ;

崔志尚 .

中国专利 :CN202947796U ,2013-05-22

[9]

一种低温光谱发射率测量系统 [P].

刘玉芳 ;

李龙飞 ;

于坤 ;

刘彦磊 ;

张凯华 ;

赵保林 .

中国专利 :CN110411576B ,2019-11-05

[10]

适用50-150K低温材料光谱发射率测量的方法和装置 [P].

章俞之 ;

马佳玉 ;

吴岭南 ;

宋力昕 .

中国专利 :CN112432915B ,2021-03-02

← 1 2 3 4 5 →