光谱测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811266516.5

申请日：

2018-10-29

公开(公告)号：

CN109799194B

公开(公告)日：

2019-05-24

发明(设计)人：

比约恩·哈斯约阿希姆·博勒

申请人：

申请人地址：

德国盖林根

IPC主分类号：

G01N2125

IPC分类号：

代理机构：

中原信达知识产权代理有限责任公司 11219

代理人：

蔡石蒙;车文

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-03	授权	授权
2019-06-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/25 申请日:20181029
2019-05-24	公开	公开

共 50 条

[1]

光谱测量装置 [P].

杨涛 ;

许超 ;

宋春元 ;

何浩培 ;

黄维 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

沈骁 ;

仪明东 ;

李咏华 .

中国专利 :CN203772415U ,2014-08-13

[2]

光谱测量装置 [P].

王唯科 .

中国专利 :CN106404684B ,2017-02-15

[3]

光谱测量设备 [P].

曼弗雷德·亚杰拉 ;

米夏埃尔·玮斯 .

中国专利 :CN107664616B ,2018-02-06

[4]

光谱测量采样装置及光谱测量系统 [P].

郑云 ;

陈东 ;

余良军 .

中国专利 :CN207937065U ,2018-10-02

[5]

光谱测量仪 [P].

冈宏一 ;

大川内真 .

中国专利 :CN100494924C ,2004-10-27

[6]

光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法 [P].

五味二夫 .

中国专利 :CN106017687B ,2016-10-12

[7]

光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[8]

一种光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN202522321U ,2012-11-07

[9]

一种光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN102680098B ,2012-09-19

[10]

光谱测量设备 [P].

吴万龙 ;

金颖康 ;

张永明 ;

王迎新 ;

陈猛 .

中国专利 :CN120369116A ,2025-07-25

← 1 2 3 4 5 →