单键开关寿命测试机

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN201720960254.7
申请日
2017-08-03
公开(公告)号
CN207008021U
公开(公告)日
2018-02-13
发明(设计)人
吴义 王大庆
申请人
申请人地址
226300 江苏省南通市通州区世纪大道788号东大科技园英才楼2088
IPC主分类号
G01R31327
IPC分类号
G01M1300
代理机构
北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435
代理人
郭栋梁
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
单键开关寿命测试机 [P]. 
吴义 ;
王大庆 .
中国专利 :CN107478984A ,2017-12-15
[2]
多键开关寿命测试机 [P]. 
吴义 ;
王大庆 .
中国专利 :CN207007500U ,2018-02-13
[3]
开关按键寿命测试机 [P]. 
吴义 ;
王大庆 .
中国专利 :CN207007634U ,2018-02-13
[4]
多键开关寿命测试机 [P]. 
吴义 ;
王大庆 .
中国专利 :CN107462408A ,2017-12-12
[5]
开关按键寿命测试机 [P]. 
吴义 ;
王大庆 .
中国专利 :CN107643222A ,2018-01-30
[6]
键盘开关寿命测试机 [P]. 
陈君伟 ;
赵绪怀 ;
张莉 ;
丁乡 ;
崔艳梅 ;
王云香 ;
寻丽红 ;
郝英 .
中国专利 :CN204027814U ,2014-12-17
[7]
一种开关寿命测试机 [P]. 
张国云 ;
李娟 .
中国专利 :CN212748281U ,2021-03-19
[8]
用于开关按键寿命测试机的测试装置 [P]. 
吴义 ;
王大庆 .
中国专利 :CN207675414U ,2018-07-31
[9]
开关面板寿命测试机 [P]. 
梁志平 .
中国专利 :CN306002838S ,2020-08-21
[10]
一种开关寿命测试机 [P]. 
雷明光 ;
聂正诚 ;
何志锋 ;
蔡振强 ;
匡财富 .
中国专利 :CN212779911U ,2021-03-23