一种全光谱薄膜厚度测量仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201920125399.4

申请日：

2019-01-25

公开(公告)号：

CN209246953U

公开(公告)日：

2019-08-13

发明(设计)人：

刘鸿飞王春武洪鹏林柯衍航

申请人：

申请人地址：

361000 福建省厦门市软件园三期诚毅大街365号1503单元

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

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法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-13	授权	授权
2021-01-08	专利权质押合同登记的生效、变更及注销	专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 登记号:Y2020980009888 登记生效日:20201224 出质人:奥谱天成（厦门）光电有限公司质权人:中国银行股份有限公司厦门集美支行实用新型名称:一种全光谱薄膜厚度测量仪申请日:20190125 授权公告日:20190813
2022-08-09	专利权质押合同登记的生效、变更及注销	专利权质押合同登记的注销 IPC(主分类):G01B 11/06 授权公告日:20190813 申请日:20190125 登记号:Y2020980009888 出质人:奥谱天成（厦门）光电有限公司质权人:中国银行股份有限公司厦门集美支行解除日:20220721
2022-08-09	专利权质押合同登记的生效、变更及注销	专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):G01B 11/06 登记号:Y2022110000164 登记生效日:20220721 出质人:奥谱天成（厦门）光电有限公司质权人:中国银行股份有限公司厦门集美支行实用新型名称:一种全光谱薄膜厚度测量仪申请日:20190125 授权公告日:20190813

共 50 条

[1]

一种用于薄膜厚度测量仪 [P].

卞希惠 ;

魏玉强 .

中国专利 :CN209263866U ,2019-08-16

[2]

一种非接触式薄膜厚度测量仪 [P].

兰家祥 ;

王国邦 ;

廖耿斌 ;

林寿英 ;

贺雪峰 .

中国专利 :CN208833185U ,2019-05-07

[3]

厚度测量仪 [P].

张珍 ;

熊义军 ;

董金龙 .

中国专利 :CN207300109U ,2018-05-01

[4]

厚度测量仪 [P].

张新军 ;

陈涛 .

中国专利 :CN201293627Y ,2009-08-19

[5]

厚度测量仪 [P].

韩鉴波 ;

陈炜 ;

黄建 ;

李苏敏 .

中国专利 :CN205505936U ,2016-08-24

[6]

厚度测量仪 [P].

胡忠录 .

中国专利 :CN201583226U ,2010-09-15

[7]

厚度测量仪 [P].

穆亚杰 ;

岳开国 .

中国专利 :CN201449236U ,2010-05-05

[8]

一种多谱近红外薄膜厚度测量仪 [P].

施永扬 .

中国专利 :CN216049698U ,2022-03-15

[9]

一种全光谱透射率快速测量仪 [P].

刘鸿飞 ;

王萍萍 ;

洪鹏林 ;

柯衍航 .

中国专利 :CN209640200U ,2019-11-15

[10]

一种测量位置可调的多通道薄膜厚度测量仪 [P].

张海涛 ;

杨丽雯 ;

杨畅 ;

薛军扬 .

中国专利 :CN222978801U ,2025-06-13

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