温度探测器的畸变校正方法、装置、设备及介质

被引：0

申请号：

CN202210321364.4

申请日：

2022-03-30

公开(公告)号：

CN114689194A

公开(公告)日：

2022-07-01

发明(设计)人：

熊雯张帆邱鹏叶盛杨洲

申请人：

申请人地址：

430080 湖北省武汉市青山区股份公司机关

IPC主分类号：

G01K700

IPC分类号：

G01K1500 G06T500

代理机构：

北京众达德权知识产权代理有限公司 11570

代理人：

刘瑞越

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-01	公开	公开
2022-07-19	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01K 7/00 申请日:20220330

共 50 条

[1]

SPECT探测器校正方法、装置、设备及介质 [P].

蒋健晖 ;

贺建军 ;

任洪平 .

中国专利 :CN120189145A ,2025-06-24

[2]

探测器、探测器晶体校正方法 [P].

陈灿 .

中国专利 :CN117497613A ,2024-02-02

[3]

平板探测器校正方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

李海春 ;

朱洪阳 ;

李天华 .

中国专利 :CN112184634A ,2021-01-05

[4]

探测器增益校正方法、装置、设备及PET系统 [P].

李运达 ;

孙智鹏 ;

李明 .

中国专利 :CN111007561B ,2020-04-14

[5]

探测器单元的校正方法和记录介质 [P].

笠原耕树 .

中国专利 :CN115435729A ,2022-12-06

[6]

信号的校正方法、读出方法、装置、探测器及成像设备 [P].

贾历平 ;

杨鹏 .

中国专利 :CN116584963B ,2025-10-21

[7]

探测器的死时间校正方法、系统、装置及存储介质 [P].

刘益林 ;

唐嵩松 ;

王建勋 .

中国专利 :CN115153606B ,2025-01-10

[8]

平板探测器残影校正方法、装置、存储介质及医疗设备 [P].

李海春 ;

李天华 ;

朱洪阳 .

中国专利 :CN111445397A ,2020-07-24

[9]

平板探测器的坏点校正方法 [P].

陈永丽 ;

牛杰 ;

胡扬 ;

崔凯 ;

张文日 .

中国专利 :CN104835125A ,2015-08-12

[10]

平板探测器的增益校正方法 [P].

王淑丽 .

中国专利 :CN109709597A ,2019-05-03

← 1 2 3 4 5 →