一种多通道电路测试装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201720264393.6
申请日
2017-03-17
公开(公告)号
CN206573680U
公开(公告)日
2017-10-20
发明(设计)人
徐文文 张新国 蒋军庭 谭韦君
申请人
申请人地址
213000 江苏省常州市新北区华山中路26号D3006-3008
IPC主分类号
G01R3114
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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共 50 条
[1]
一种多通道电路测试装置及脑深部电极测试方法 [P]. 
徐文文 ;
张新国 ;
蒋军庭 ;
谭韦君 .
中国专利 :CN106814295A ,2017-06-09
[2]
一种电路测试装置 [P]. 
王定刚 ;
邢天昊 ;
郭志鑫 ;
张文祥 ;
张磊 ;
刘升和 ;
成锋 ;
毛立群 .
中国专利 :CN218470797U ,2023-02-10
[3]
一种电路模块测试装置 [P]. 
刘旭 ;
刘桃 .
中国专利 :CN119574929B ,2025-05-23
[4]
一种电路模块测试装置 [P]. 
刘旭 ;
刘桃 .
中国专利 :CN119574929A ,2025-03-07
[5]
一种降噪功能测试电路、测试装置以及耳机 [P]. 
郭世文 ;
吴海全 ;
刘冬华 ;
杨卉 ;
谢光河 .
中国专利 :CN218103443U ,2022-12-20
[6]
一种多通道电感测试装置 [P]. 
徐晓文 ;
张雪锋 ;
朱守善 .
中国专利 :CN118914676A ,2024-11-08
[7]
一种多通道电感测试装置 [P]. 
徐晓文 ;
张雪锋 ;
朱守善 .
中国专利 :CN118914676B ,2025-03-18
[8]
多通道电流测试装置 [P]. 
卢健强 .
中国专利 :CN118393314A ,2024-07-26
[9]
一种集成电路测试装置 [P]. 
周梁 .
中国专利 :CN215067096U ,2021-12-07
[10]
一种集成电路测试装置 [P]. 
张新波 .
中国专利 :CN222212820U ,2024-12-20