通用集成电路测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN89220565.2

申请日：

1989-12-01

公开(公告)号：

CN2062852U

公开(公告)日：

1990-09-26

发明(设计)人：

黄烨东

申请人：

申请人地址：

陕西省西安市南郊吴家坟陕西师大物理系

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

陕西师范大学专利代理事务所

代理人：

于富斌

法律状态：

授权

国省代码：

引用

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1991-05-15	授权	授权
1990-09-26	公开	公开
1993-10-20	专利权的终止未缴年费专利权终止	专利权的终止未缴年费专利权终止

共 50 条

[1]

集成电路测试仪 [P].

阎捷 ;

高文焕 ;

徐振英 ;

张尊侨 ;

金平 ;

田淑珍 ;

刘艳 ;

任艳频 ;

侯素芳 ;

任勇 .

中国专利 :CN201035124Y ,2008-03-12

[2]

集成电路测试仪 [P].

徐流鑫 ;

石培杰 ;

姚健 .

中国专利 :CN306348865S ,2021-02-26

[3]

集成电路测试仪 [P].

栗念龙 .

中国专利 :CN302381793S ,2013-04-03

[4]

一种通用数字集成电路测试仪 [P].

许弋 .

中国专利 :CN213689861U ,2021-07-13

[5]

集成电路测试仪 [P].

陈荣国 ;

郭云彪 .

中国专利 :CN86300097S ,1987-07-10

[6]

集成电路测试仪 [P].

冯长江 ;

段荣霞 ;

李楠 ;

郎宾 ;

黄天辰 ;

刘美全 ;

濮霞 ;

陶炳坤 .

中国专利 :CN210051856U ,2020-02-11

[7]

闪灯集成电路测试仪 [P].

王英广 ;

李科 .

中国专利 :CN2903997Y ,2007-05-23

[8]

通用集成电路编程及测试仪 [P].

柳旭 ;

彭胜祥 .

中国专利 :CN2169161Y ,1994-06-15

[9]

集成电路功能测试仪 [P].

徐瑞 ;

姜占鹏 ;

郭红 .

中国专利 :CN203337779U ,2013-12-11

[10]

HGC集成电路测试仪 [P].

侯友良 ;

蒋乐伟 .

中国专利 :CN101533065A ,2009-09-16

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