双系统量测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201220513298.2

申请日：

2012-10-09

公开(公告)号：

CN202837547U

公开(公告)日：

2013-03-27

发明(设计)人：

李友正

申请人：

申请人地址：

中国台湾台中市

IPC主分类号：

G01S1708

IPC分类号：

G01B502 G01B1102

代理机构：

北京天平专利商标代理有限公司 11239

代理人：

孙刚

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-11-24	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01S 17/08 申请日:20121009 授权公告日:20130327 终止日期:20161009
2013-03-27	授权	授权

共 50 条

[1]

模组化量测装置 [P].

李友正 .

中国专利 :CN203012137U ,2013-06-19

[2]

量测系统 [P].

杨孟文 ;

杨正廉 ;

许铭昌 ;

林岳晖 ;

王瑞萍 ;

沈燕士 .

中国专利 :CN201104268Y ,2008-08-20

[3]

晶圆薄膜量测装置及量测系统 [P].

李贤铭 ;

陈国庆 .

中国专利 :CN209087771U ,2019-07-09

[4]

量测装置、量测补偿系统、量测方法及量测补偿方法 [P].

李想 .

中国专利 :CN115597510A ,2023-01-13

[5]

量测装置 [P].

詹森雄 ;

江家谊 .

中国专利 :CN210894402U ,2020-06-30

[6]

量测装置 [P].

欧凌华 ;

唐国强 .

中国专利 :CN205919753U ,2017-02-01

[7]

光学量测系统、光学量测装置及其量测方法 [P].

吴世傑 ;

林典瑩 ;

林辰泰 ;

庄世昌 .

中国专利 :CN109282750B ,2019-01-29

[8]

电阻量测系统及电阻量测装置 [P].

陈仁和 ;

李崇智 ;

苟崴第 ;

王皓冀 .

中国专利 :CN206863126U ,2018-01-09

[9]

电阻量测系统及电阻量测装置 [P].

陈仁和 ;

李崇智 ;

苟崴第 ;

王皓冀 .

中国专利 :CN108627701A ,2018-10-09

[10]

量测系统、量测方法及其计量量测装置 [P].

刘颖昌 ;

戴君如 .

中国专利 :CN102401880A ,2012-04-04

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