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发光元件检测设备
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN201621445048.4
申请日
:
2016-12-27
公开(公告)号
:
CN206460132U
公开(公告)日
:
2017-09-01
发明(设计)人
:
黄士峰
余承颖
吴上义
申请人
:
申请人地址
:
中国台湾新竹县
IPC主分类号
:
G01R3126
IPC分类号
:
G01M1102
代理机构
:
北京市柳沈律师事务所 11105
代理人
:
陈小雯
法律状态
:
专利权的终止
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-12-13
专利权的终止
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20161227 授权公告日:20170901 终止日期:20181227
2017-09-01
授权
授权
共 50 条
[1]
发光元件检测方法及设备
[P].
吴秉颖
论文数:
0
引用数:
0
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0
吴秉颖
;
刘永钦
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刘永钦
;
黄炫乔
论文数:
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黄炫乔
.
中国专利
:CN112993739A
,2021-06-18
[2]
发光元件检测装置
[P].
蒋少邯
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蒋少邯
;
高子翔
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高子翔
;
曾宗伟
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0
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曾宗伟
;
彭文劭
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彭文劭
;
吴俊亿
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吴俊亿
;
陈信翰
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陈信翰
;
吴庭谊
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吴庭谊
;
欧晓蓉
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欧晓蓉
;
陈威甫
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陈威甫
;
林志远
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林志远
;
王俐佳
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王俐佳
.
中国专利
:CN113758680A
,2021-12-07
[3]
发光元件及检测装置
[P].
李宝雨
论文数:
0
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0
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李宝雨
.
中国专利
:CN111785764B
,2020-10-16
[4]
发光元件、发光设备
[P].
上田吉裕
论文数:
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上田吉裕
.
中国专利
:CN114946046A
,2022-08-26
[5]
发光元件、发光设备
[P].
上田吉裕
论文数:
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0
机构:
夏普株式会社
夏普株式会社
上田吉裕
.
日本专利
:CN113196880B
,2024-09-17
[6]
发光元件、发光设备
[P].
上田吉裕
论文数:
0
引用数:
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机构:
夏普株式会社
夏普株式会社
上田吉裕
.
日本专利
:CN114946046B
,2025-08-01
[7]
发光元件、发光设备
[P].
上田吉裕
论文数:
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上田吉裕
.
中国专利
:CN113196880A
,2021-07-30
[8]
发光元件控制设备以及发光组件
[P].
王云江
论文数:
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王云江
;
黄文琪
论文数:
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黄文琪
.
中国专利
:CN213638303U
,2021-07-06
[9]
发光元件及其加工设备
[P].
何耀文
论文数:
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0
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何耀文
.
中国专利
:CN212421984U
,2021-01-29
[10]
发光元件检测与分类装置
[P].
汪秉龙
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汪秉龙
;
陈桂标
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0
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陈桂标
;
陈信呈
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0
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陈信呈
.
中国专利
:CN202075380U
,2011-12-14
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