一种基于光计算的扫频光学相干成像系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510108910.6

申请日：

2015-03-12

公开(公告)号：

CN104706322A

公开(公告)日：

2015-06-17

发明(设计)人：

薛平张晓霍天成王成铭陈天元廖文超艾盛楠章文欣谢睿程

申请人：

申请人地址：

100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室

IPC主分类号：

A61B500

IPC分类号：

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司 11245

代理人：

徐宁;刘美丽

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-06-17	公开	公开
2015-07-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101616812071 IPC(主分类):A61B 5/00 专利申请号:2015101089106 申请日:20150312
2017-03-01	授权	授权

共 50 条

[1]

一种基于光计算的光谱光学相干成像系统 [P].

薛平 ;

张晓 ;

霍天成 ;

王成铭 ;

陈天元 ;

廖文超 ;

艾盛楠 ;

章文欣 ;

谢睿程 .

中国专利 :CN104688188B ,2015-06-10

[2]

一种基于光计算的强度调制式光学相干层析成像系统 [P].

张晓 ;

钟浩哲 ;

曹良齐 .

中国专利 :CN116849625B ,2024-01-16

[3]

扫频源光学相干断层扫描成像系统 [P].

米格尔·安吉尔·普雷西亚多 ;

利霍·瓦鲁格斯查科 .

中国专利 :CN113545743A ,2021-10-26

[4]

扫频源光学相干断层扫描成像系统 [P].

米格尔·安吉尔·普雷西亚多 ;

利霍·瓦鲁格斯查科 .

英国专利 :CN113545743B ,2024-05-31

[5]

一种高信噪比的光计算光学相干成像系统 [P].

薛平 ;

张晓 ;

王成铭 ;

章文欣 ;

廖文超 ;

艾盛楠 ;

彭彰凯 .

中国专利 :CN108572142B ,2018-09-25

[6]

基于扫频光源的共路光学相干层析成像系统 [P].

王东琳 ;

谢会开 .

中国专利 :CN203953623U ,2014-11-26

[7]

一种扫频OCT的光学干涉成像系统 [P].

黄炳杰 ;

彭先兆 .

中国专利 :CN209074572U ,2019-07-09

[8]

一种扫频OCT的光学干涉成像系统 [P].

黄炳杰 ;

彭先兆 .

中国专利 :CN108523852A ,2018-09-14

[9]

一种基于环形光学相干探测的显微成像系统 [P].

戚力 ;

姚晟 ;

陈德朗 ;

张晓明 ;

莫宗鑫 ;

张双阳 ;

陈武凡 .

中国专利 :CN118310981A ,2024-07-09

[10]

一种基于光学相干干涉的测量系统 [P].

朱俊 .

中国专利 :CN106017513A ,2016-10-12

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