冷热冲击测试装置及测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010116819.X
申请日
2020-02-25
公开(公告)号
CN113376048A
公开(公告)日
2021-09-10
发明(设计)人
张汝京 蒋小金 孙明圣
申请人
申请人地址
266000 山东省青岛市黄岛区太白山路19号德国企业南区401
IPC主分类号
G01N360
IPC分类号
G01N302
代理机构
上海光华专利事务所(普通合伙) 31219
代理人
余明伟
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
冲击测试装置及冲击测试方法 [P]. 
蒋宗勋 .
中国专利 :CN102213637A ,2011-10-12
[2]
小型快速冷热冲击测试装置 [P]. 
刘冬喜 .
中国专利 :CN113203913B ,2021-08-03
[3]
冲击测试装置及冲击测试系统 [P]. 
李克武 .
中国专利 :CN115752991B ,2024-08-13
[4]
冲击测试装置 [P]. 
季竹青 ;
胡德志 .
中国专利 :CN201322683Y ,2009-10-07
[5]
冲击测试装置及方法 [P]. 
张学峰 ;
左鹏飞 ;
吴丽娜 ;
蔡建和 .
中国专利 :CN106969899A ,2017-07-21
[6]
一种芯片冷热冲击测试装置及其测试方法 [P]. 
尚跃 ;
陶灿 .
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[7]
冷热疲劳测试装置及方法 [P]. 
钟子强 ;
林细勇 ;
伍文勇 ;
何良波 ;
何旺枝 ;
詹松 .
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[8]
一种冲击测试装置及冲击测试方法 [P]. 
钱欢 ;
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[9]
电池热冲击测试方法及测试装置 [P]. 
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张海林 ;
张勍 ;
张守华 ;
纪岩龙 ;
白培锋 ;
张智京 ;
邱彦星 .
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[10]
正面冲击摩擦测试装置及测试方法 [P]. 
彭玉兴 ;
朱真才 ;
于永立 ;
陈国安 ;
曹国华 ;
李伟 ;
周公博 ;
卢昊 ;
王大刚 .
中国专利 :CN103760101A ,2014-04-30