影像测试治具

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120524283.1

申请日：

2011-12-15

公开(公告)号：

CN202364333U

公开(公告)日：

2012-08-01

发明(设计)人：

葛海军

申请人：

申请人地址：

215200 江苏省苏州市吴江市松陵镇中山北路2379号

IPC主分类号：

H04N1700

IPC分类号：

代理机构：

常州佰业腾飞专利代理事务所(普通合伙) 32231

代理人：

金辉

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-08-01	授权	授权
2019-12-06	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H04N 17/00 申请日:20111215 授权公告日:20120801 终止日期:20181215

共 50 条

[1]

液晶数显计数式影像测试治具 [P].

赵亚飞 .

中国专利 :CN202362407U ,2012-08-01

[2]

线路板测试治具 [P].

周永林 ;

王龙龙 ;

张波 .

中国专利 :CN204028300U ,2014-12-17

[3]

振动测试治具 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

温游强 ;

张劲松 .

中国专利 :CN213583125U ,2021-06-29

[4]

拉拔测试治具 [P].

朱兴华 ;

苏新虹 .

中国专利 :CN201926615U ,2011-08-10

[5]

手动测试治具 [P].

许可贵 ;

苏祥辉 .

中国专利 :CN218036905U ,2022-12-13

[6]

ICT测试治具 [P].

盛如意 .

中国专利 :CN202372615U ,2012-08-08

[7]

芯片测试治具 [P].

谢森华 .

中国专利 :CN207923960U ,2018-09-28

[8]

电流测试治具 [P].

贺建文 .

中国专利 :CN211554115U ,2020-09-22

[9]

测试治具以及测试组件 [P].

刘武 ;

刘春阳 ;

张玉贵 ;

何应明 .

中国专利 :CN204514705U ,2015-07-29

[10]

测试治具及测试系统 [P].

高德康 ;

李冬晗 ;

杨威 .

中国专利 :CN207965406U ,2018-10-12

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