测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质

被引：0

申请号：

CN202211287754.0

申请日：

2022-10-20

公开(公告)号：

CN115658495A

公开(公告)日：

2023-01-31

发明(设计)人：

练素琼何小龙王浩苏珊虹陈荔丽何燕飞林顺

申请人：

申请人地址：

361021 福建省厦门市集美区集美大道1302号创业大厦六层607单元之三

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F861 G06F871 G06T340

代理机构：

北京市立方律师事务所 11330

代理人：

张筱宁

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20221020
2023-01-31	公开	公开

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

何小龙 ;

王浩 ;

练素琼 ;

何燕飞 ;

林顺 .

中国专利 :CN115640220A ,2023-01-24

[2]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

何小龙 ;

吴智明 ;

王浩 ;

何燕飞 ;

林顺 .

中国专利 :CN113656289A ,2021-11-16

[3]

灰度测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

张青阳 .

中国专利 :CN113377659A ,2021-09-10

[4]

测试方法、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

罗贤军 ;

张金鹏 ;

陈新斌 .

中国专利 :CN119865545A ,2025-04-22

[5]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

陈友洋 .

中国专利 :CN113485931A ,2021-10-08

[6]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

徐立宇 ;

陈文极 ;

林震宇 ;

林晨 ;

林智泓 ;

陈艺辉 .

中国专利 :CN111159023A ,2020-05-15

[7]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

刘正阳 .

中国专利 :CN110689285A ,2020-01-14

[8]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

张丙振 .

中国专利 :CN112685282A ,2021-04-20

[9]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

张丙振 .

中国专利 :CN112685282B ,2024-08-23

[10]

测试方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质 [P].

林耿镇 ;

郭江雅 ;

于凯 ;

周小鲁 .

中国专利 :CN114385496A ,2022-04-22

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