测试暗室及测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810172122.7

申请日：

2018-03-01

公开(公告)号：

CN108111232A

公开(公告)日：

2018-06-01

发明(设计)人：

张妍杨晓魏耀德孔庆辉

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区华亭镇浏翔公路6899号1幢J120室

IPC主分类号：

H04B1700

IPC分类号：

H04B17391

代理机构：

北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371

代理人：

张海洋

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-06-01	公开	公开
2018-06-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):H04B 17/00 申请日:20180301

共 50 条

[1]

测试暗室及暗室系统 [P].

张妍 ;

杨晓 ;

魏耀德 ;

孔庆辉 .

中国专利 :CN208369594U ,2019-01-11

[2]

OTA测试暗室及测试系统 [P].

张妍 ;

杨晓 ;

魏耀德 ;

孔庆辉 .

中国专利 :CN108134636A ,2018-06-08

[3]

OTA测试暗室及暗室系统 [P].

张妍 ;

杨晓 ;

魏耀德 ;

孔庆辉 .

中国专利 :CN208369595U ,2019-01-11

[4]

微波暗室测试柜及微波暗室测试系统 [P].

夏冬雪 .

中国专利 :CN211348440U ,2020-08-25

[5]

微波暗室测试系统 [P].

高伟 ;

花骏 ;

盛小春 ;

周婷 ;

花臻良 .

中国专利 :CN121008093A ,2025-11-25

[6]

用于卫星通信OTA测试的暗室及系统 [P].

张妍 .

中国专利 :CN106771669A ,2017-05-31

[7]

暗室静区测试系统及暗室静区测试方法 [P].

卜景鹏 ;

东君伟 ;

马向华 ;

秦然 .

中国专利 :CN111913049A ,2020-11-10

[8]

OTA暗室测试系统、方法及相关装置 [P].

蒋宏荣 .

中国专利 :CN115412182A ,2022-11-29

[9]

一种暗室测试系统 [P].

曹宝华 ;

郑建跤 ;

高华 ;

席涛 ;

季岳 .

中国专利 :CN117388585A ,2024-01-12

[10]

一种暗室测试系统 [P].

曹宝华 ;

郑建跤 ;

高华 ;

席涛 ;

季岳 .

中国专利 :CN117388585B ,2024-04-26

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