一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910403956.9

申请日：

2019-05-16

公开(公告)号：

CN110031537A

公开(公告)日：

2019-07-19

发明(设计)人：

杨天丽刘雪梅龙开明罗立力王海龙孙明良杨凤杰欧阳群益

申请人：

申请人地址：

621999 四川省绵阳市919信箱214分箱

IPC主分类号：

G01N2762

IPC分类号：

代理机构：

中国工程物理研究院专利中心 51210

代理人：

翟长明;韩志英

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-07-19	公开	公开
2019-08-13	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 27/62 申请日:20190516

共 50 条

[1]

一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置 [P].

杨天丽 ;

刘雪梅 ;

龙开明 ;

罗立力 ;

王海龙 ;

孙明良 ;

杨凤杰 ;

欧阳群益 .

中国专利 :CN110031537B ,2024-04-09

[2]

一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置 [P].

杨天丽 ;

刘雪梅 ;

龙开明 ;

罗立力 ;

王海龙 ;

孙明良 ;

杨凤杰 ;

欧阳群益 .

中国专利 :CN209911287U ,2020-01-07

[3]

基于四极质谱仪的大气样品中氙同位素丰度比的测量方法 [P].

杨天丽 ;

罗立力 ;

刘雪梅 ;

龙开明 .

中国专利 :CN110045000A ,2019-07-23

[4]

一种稳定同位素丰度的质谱测定方法 [P].

曹金浩 ;

杨凤诚 ;

侯超 ;

窦鑫 ;

刘佳龙 .

中国专利 :CN115096978B ,2025-06-27

[5]

一种稳定同位素丰度的质谱测定方法 [P].

曹金浩 ;

杨凤诚 ;

侯超 ;

窦鑫 ;

刘佳龙 .

中国专利 :CN115096978A ,2022-09-23

[6]

加速器质谱测量微粒中铀同位素丰度比的方法 [P].

王琛 ;

董克君 ;

何明 ;

赵兴红 ;

张燕 ;

赵永刚 ;

李力力 ;

姜山 .

中国专利 :CN104535598A ,2015-04-22

[7]

基于同位素或其二级质谱离子同位素丰度分布的质谱定量分析方法 [P].

刘斌 .

中国专利 :CN112326851A ,2021-02-05

[8]

一种用于氢同位素气体分析的四极质谱进样系统 [P].

何康昊 ;

姜飞 ;

王泽骥 ;

张志 ;

陈闽 ;

安永涛 ;

陈克琳 ;

罗军洪 ;

蔡金光 .

中国专利 :CN110444464B ,2019-11-12

[9]

一种钼同位素丰度负热电离质谱测量方法 [P].

梁帮宏 ;

张劲松 ;

邓辉 ;

杨彬 ;

张舸 .

中国专利 :CN102565180B ,2012-07-11

[10]

一种基于串联质谱的稳定同位素丰度的测定方法 [P].

盛立彦 ;

赵雅梦 ;

雷雯 ;

张鹏帅 ;

范若宁 ;

解龙 ;

高慧敏 ;

罗勇 .

中国专利 :CN118483310A ,2024-08-13

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