表面三维形貌检测方法和装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN99127007.X
申请日
1999-12-29
公开(公告)号
CN1256414A
公开(公告)日
2000-06-14
发明(设计)人
何永辉 颜永根 赵万生 蒋剑峰 徐耀寰 刘泊 孙忠林
申请人
申请人地址
201900上海市浦东新区浦电路370号
IPC主分类号
G01N1312
IPC分类号
G01B1130
代理机构
上海市机电工业管理局专利事务所
代理人
郑明辉
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
无需轴向扫描的表面三维形貌检测装置 [P]. 
余卿 ;
张昆 ;
张一 ;
崔长彩 ;
程方 ;
周瑞兰 ;
邹景武 .
中国专利 :CN208520339U ,2019-02-19
[2]
无需轴向扫描的表面三维形貌检测装置及其使用方法 [P]. 
余卿 ;
张昆 ;
张一 ;
崔长彩 ;
程方 ;
周瑞兰 ;
邹景武 .
中国专利 :CN108955568A ,2018-12-07
[3]
三维形貌检测方法 [P]. 
朴喜载 ;
安祐正 .
中国专利 :CN102428344A ,2012-04-25
[4]
三维形貌检测装置 [P]. 
王伟诚 ;
郭世炫 ;
陈金亮 .
中国专利 :CN101750027B ,2010-06-23
[5]
一种容器内表面三维形貌无损检测装置及检测方法 [P]. 
孙傲 .
中国专利 :CN109029292A ,2018-12-18
[6]
三维形貌表面捕获装置 [P]. 
F·C·托马斯三世 ;
J·A·圣约翰 ;
S·加西亚-雷耶罗魏南斯 ;
O·P·科伦巴斯 ;
C·M·达米尔 .
美国专利 :CN119096111A ,2024-12-06
[7]
三维表面检测装置及三维表面检测方法 [P]. 
卢存伟 .
中国专利 :CN103075979B ,2013-05-01
[8]
三维形貌测量装置 [P]. 
余良彬 ;
王湧锋 ;
陈俊玓 .
中国专利 :CN112747686B ,2021-05-04
[9]
用于获取三维形貌的装置和方法 [P]. 
T·塞弗特 .
中国专利 :CN101868690A ,2010-10-20
[10]
利用波长作相移获取表面三维形貌的方法 [P]. 
张红霞 ;
石凤 ;
贾大功 ;
胡百泉 ;
张以谟 .
中国专利 :CN101788275B ,2010-07-28