基于外差技术测试相位调制器半波电压的装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910153859.5

申请日：

2009-11-16

公开(公告)号：

CN101713701B

公开(公告)日：

2010-05-26

发明(设计)人：

陈妍马慧莲彭博金仲和

申请人：

申请人地址：

310027 浙江省杭州市浙大路38号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01C1964 G02F101

代理机构：

杭州求是专利事务所有限公司 33200

代理人：

张法高

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-07-20	授权	授权
2014-01-08	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101560123322 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL2009101538595 申请日:20091116 授权公告日:20110720 终止日期:20121116
2010-08-04	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101004470936 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2009101538595 申请日:20091116
2010-05-26	公开	公开

共 50 条

[1]

一种相位调制器半波电压测试系统 [P].

代成伟 .

中国专利 :CN220773158U ,2024-04-12

[2]

一种测量电光相位调制器半波电压的装置和方法 [P].

张尚剑 ;

王恒 ;

邹新海 ;

尹欢欢 ;

刘永 .

中国专利 :CN103645371B ,2014-03-19

[3]

一种测量铌酸锂相位调制器半波电压的系统 [P].

张欠欠 ;

朱伟 ;

胡敏 ;

郭邦红 .

中国专利 :CN216721333U ,2022-06-10

[4]

一种测量QKD系统铌酸锂相位调制器半波电压的系统及方法 [P].

郭邦红 ;

张欠欠 ;

朱伟 ;

胡敏 .

中国专利 :CN114389706B ,2024-04-16

[5]

一种测量QKD系统铌酸锂相位调制器半波电压的系统及方法 [P].

郭邦红 ;

张欠欠 ;

朱伟 ;

胡敏 .

中国专利 :CN114389706A ,2022-04-22

[6]

用于确定AMZI相位调制器半波电压的装置和方法 [P].

李骁 ;

安俊明 ;

王玥 ;

任梅珍 ;

王亮亮 ;

张家顺 ;

尹小杰 ;

吴远大 .

中国专利 :CN110411715B ,2019-11-05

[7]

一种适用于宽频段的相位调制器半波电压测试系统及方法 [P].

柏博 ;

陶宗渊 ;

陈力锋 ;

胡紫阳 .

中国专利 :CN120669022A ,2025-09-19

[8]

一种测量相位调制器半波电压的装置和方法 [P].

郭邦红 ;

张欠欠 .

中国专利 :CN119827819A ,2025-04-15

[9]

确定相位调制器半波电压的方法 [P].

佘祥胜 ;

苗春华 ;

韩正甫 ;

赵义博 .

中国专利 :CN103837329A ,2014-06-04

[10]

一种相位调制器半波电压的测量装置及方法 [P].

刘仁德 ;

唐世彪 ;

杜先常 ;

郑伯然 .

中国专利 :CN114689921A ,2022-07-01

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