集成电路的逻辑综合方法、装置、电子设备以及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210323490.3

申请日：

2022-03-29

公开(公告)号：

CN114626320A

公开(公告)日：

2022-06-14

发明(设计)人：

盛晨浩

申请人：

申请人地址：

200235 上海市徐汇区永嘉路698号518室

IPC主分类号：

G06F30327

IPC分类号：

代理机构：

北京中知恒瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 11889

代理人：

袁忠林

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-01	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 30/327 申请日:20220329
2022-06-14	公开	公开

共 50 条

[1]

集成电路的逻辑综合方法、装置、电子设备、介质及芯片 [P].

朱鸣 .

中国专利 :CN114912387A ,2022-08-16

[2]

集成电路的逻辑综合方法、装置、电子设备、介质及芯片 [P].

陈文杰 .

中国专利 :CN114781291A ,2022-07-22

[3]

集成电路的逻辑综合方法、装置、电子设备、介质及芯片 [P].

陈文杰 .

中国专利 :CN114781291B ,2025-09-12

[4]

集成电路的验证方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

魏洁 ;

刘勋 .

中国专利 :CN114548006A ,2022-05-27

[5]

集成电路的验证方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

魏洁 ;

刘勋 .

中国专利 :CN114548006B ,2025-02-07

[6]

集成电路的带宽控制方法、集成电路、电子设备和存储介质 [P].

余剑锋 .

:CN119415459A ,2025-02-11

[7]

集成电路的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

韦敏荣 ;

李安平 ;

陈杰夫 ;

刘活 ;

吴智强 ;

李晓白 .

中国专利 :CN120385908A ,2025-07-29

[8]

集成电路的设计方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

陶昱良 ;

代开勇 ;

潘于 .

中国专利 :CN115719052B ,2025-08-29

[9]

集成电路测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

郭晗 ;

罗俊杰 ;

韩滔 ;

聂之君 ;

孔笑荷 ;

周若臣 ;

沈郁博 ;

么鹏 .

中国专利 :CN117452178A ,2024-01-26

[10]

集成电路修补方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

林家圣 .

中国专利 :CN110991124B ,2020-04-10

← 1 2 3 4 5 →