用于X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020301420.4

申请日：

2020-03-10

公开(公告)号：

CN211718165U

公开(公告)日：

2020-10-20

发明(设计)人：

马兵兵徐阳李科建廖俊梅卜云磊

申请人：

申请人地址：

400700 重庆市北碚区蔡家岗镇同德路12号

IPC主分类号：

G01N232202

IPC分类号：

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-20	授权	授权

共 50 条

[1]

一种用以x射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置 [P].

李磊 ;

魏旭 ;

张青 ;

阳珊 ;

遇祯 ;

王枫 .

中国专利 :CN216361786U ,2022-04-22

[2]

一种用以X射线荧光光谱测定杂质元素的熔融制样装置 [P].

尹戈 ;

王清乐 ;

唐开尧 ;

罗莹 ;

曾明龙 .

中国专利 :CN211785233U ,2020-10-27

[3]

滤纸片X射线荧光光谱测定铁红中杂质元素含量的方法 [P].

陈晓宇 ;

黄小琴 ;

刘超 ;

肖丹 .

中国专利 :CN109324073A ,2019-02-12

[4]

一种用X射线荧光光谱测定硅铁合金主成分的熔融制样的方法 [P].

刘素祥 ;

汤兰兰 ;

肖师杰 ;

孙闯 ;

叶晓晴 .

中国专利 :CN117420164A ,2024-01-19

[5]

X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备 [P].

张环月 ;

权北北 ;

刘向辉 ;

邹龙江 ;

季首华 .

中国专利 :CN206696208U ,2017-12-01

[6]

X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备 [P].

王清亚 ;

李福生 ;

徐木强 ;

张丽娇 ;

张焱 ;

汤彬 ;

黎安琪 ;

裴晨扬 ;

闫博 ;

陈帮林 .

中国专利 :CN209624194U ,2019-11-12

[7]

X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备 [P].

张环月 ;

权北北 ;

刘向辉 ;

邹龙江 ;

季首华 .

中国专利 :CN107132243A ,2017-09-05

[8]

一种用于X射线荧光光谱分析的熔融制样装置 [P].

吴桂容 ;

陈嘉杰 .

中国专利 :CN221174453U ,2024-06-18

[9]

X射线荧光光谱法用制样装置 [P].

刘文华 .

中国专利 :CN207232049U ,2018-04-13

[10]

基于X射线荧光光谱的井下煤样稀土元素检测系统 [P].

严晓云 ;

宁树正 ;

徐小涛 ;

黄少青 ;

邸少波 .

中国专利 :CN120992673A ,2025-11-21

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