芯片及其测试模式保护电路

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320169630.2

申请日：

2013-04-08

公开(公告)号：

CN203179877U

公开(公告)日：

2013-09-04

发明(设计)人：

谭洪贺刘忠志

申请人：

申请人地址：

100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼

IPC主分类号：

H01L23544

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权人的姓名或者名称、地址的变更

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-04-02	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101699784335 IPC(主分类):H01L 23/544 专利号:ZL2013201696302 变更事项:专利权人变更前:北京昆腾微电子股份有限公司变更后:昆腾微电子股份有限公司变更事项:地址变更前:100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼变更后:100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼
2013-09-04	授权	授权
2014-04-02	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101699784334 IPC(主分类):H01L 23/544 专利号:ZL2013201696302 变更事项:专利权人变更前:北京昆腾微电子有限公司变更后:北京昆腾微电子股份有限公司变更事项:地址变更前:100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼变更后:100195 北京市海淀区玉泉山路23号4号楼
2015-07-22	避免重复授权放弃专利权	避免重复授权放弃专利权号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101718232309 IPC(主分类):H01L 23/544 专利号:ZL2013201696302 申请日:20130408 授权公告日:20130904 放弃生效日:20150722

共 50 条

[1]

芯片及其测试模式保护电路和方法 [P].

谭洪贺 ;

刘忠志 .

中国专利 :CN103227167B ,2013-07-31

[2]

芯片测试模式切换电路 [P].

刘杨 ;

张巍 ;

张锋 ;

吴修英 ;

易峰 .

中国专利 :CN213069089U ,2021-04-27

[3]

测试保护电路及其控制方法、测试电路及芯片测试电路 [P].

陆玉斌 .

中国专利 :CN113359008B ,2021-09-07

[4]

电池保护芯片及其保护电路 [P].

李杰 ;

白青刚 ;

杨小华 .

中国专利 :CN214755515U ,2021-11-16

[5]

一种保护电路、测试模式保护方法和芯片 [P].

王辉 ;

李建波 ;

蒙卡娜 .

中国专利 :CN119849401A ,2025-04-18

[6]

一种芯片测试模式的保护电路及其控制方法 [P].

时颖 ;

吕于强 ;

鞠建宏 .

中国专利 :CN119087196A ,2024-12-06

[7]

一种芯片测试模式的保护电路及其控制方法 [P].

时颖 ;

吕宇强 ;

鞠建宏 .

中国专利 :CN119087196B ,2025-05-09

[8]

IC芯片保护电路 [P].

李海廷 ;

周孝亮 ;

朱俊高 ;

钟春林 ;

黄斌 ;

李丰平 ;

范勇 ;

叶界明 ;

李少科 ;

陈学文 ;

唐辉 ;

张秀 .

中国专利 :CN209571817U ,2019-11-01

[9]

升压芯片及其短路保护电路 [P].

黄建刚 ;

程剑涛 ;

王云松 ;

吴传奎 ;

董渊 ;

孙洪军 .

中国专利 :CN209233727U ,2019-08-09

[10]

芯片保护电路 [P].

陈国义 ;

田波 ;

高阳 .

中国专利 :CN103186448A ,2013-07-03

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