多工位芯片测试机构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201720701497.9

申请日：

2017-06-16

公开(公告)号：

CN207281240U

公开(公告)日：

2018-04-27

发明(设计)人：

王海昌陈东张成位贤龙姜海光

申请人：

申请人地址：

215131 江苏省苏州市相城经济技术开发区漕湖产业园方桥路568号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司 32103

代理人：

马明渡;王健

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-04-27	授权	授权
2021-05-28	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20170616 授权公告日:20180427 终止日期:20200616

共 50 条

[1]

多工位芯片SMT测试机构 [P].

陈东 ;

王海昌 ;

陈松 ;

姚燕杰 ;

王凯 ;

姜海光 .

中国专利 :CN207541099U ,2018-06-26

[2]

双工位芯片测试机构 [P].

狄建科 ;

杜朋 .

中国专利 :CN221007772U ,2024-05-24

[3]

一种多工位芯片测试机 [P].

谈海林 ;

赵承进 ;

林依团 ;

李鑫期 ;

周欢 ;

黄彩强 .

中国专利 :CN218455769U ,2023-02-07

[4]

一种多工位芯片测试机 [P].

陈云 ;

朱玉萍 ;

岑刚 .

中国专利 :CN202126482U ,2012-01-25

[5]

一种多工位芯片测试机 [P].

谈海林 ;

赵承进 ;

林依团 ;

李鑫期 ;

周欢 ;

黄彩强 .

中国专利 :CN115480147A ,2022-12-16

[6]

一种多工位芯片测试机 [P].

谈海林 ;

赵承进 ;

林依团 ;

李鑫期 ;

周欢 ;

黄彩强 .

中国专利 :CN115480147B ,2025-11-04

[7]

芯片测试机构及测试机 [P].

张磊 ;

陈波 .

中国专利 :CN216595407U ,2022-05-24

[8]

一种多工位芯片测试机 [P].

陈云 ;

朱玉萍 ;

岑刚 .

中国专利 :CN102798809A ,2012-11-28

[9]

多工位圆柱电池测试机构 [P].

常朝晋 ;

周培荣 .

中国专利 :CN220626607U ,2024-03-19

[10]

芯片测试用多工位切换机构 [P].

罗伟 .

中国专利 :CN223597740U ,2025-11-25

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