电子设备开关机老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201621246721.1

申请日：

2016-11-16

公开(公告)号：

CN206411199U

公开(公告)日：

2017-08-15

发明(设计)人：

张娉婷

申请人：

申请人地址：

200233 上海市闵行区宜山路1618号E厂房801A室

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

代理机构：

上海翰信知识产权代理事务所(普通合伙) 31270

代理人：

张维东

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-08-15	授权	授权

共 50 条

[1]

开关机老化测试装置 [P].

黄鹏坤 .

中国专利 :CN216979206U ,2022-07-15

[2]

开关机测试装置 [P].

张荣裕 .

中国专利 :CN103163395A ,2013-06-19

[3]

自动快速开关机测试装置 [P].

程家松 ;

魏子翔 .

中国专利 :CN207148169U ,2018-03-27

[4]

开关机控制装置和电子设备 [P].

陆城富 ;

靖俊 ;

舒小平 ;

孙仲健 ;

李惠民 .

中国专利 :CN112639634A ,2021-04-09

[5]

电视机开关机测试装置 [P].

何觅 ;

焦春生 .

中国专利 :CN201557211U ,2010-08-18

[6]

一种开关机测试装置 [P].

周强 .

中国专利 :CN205374637U ,2016-07-06

[7]

电子装置的开关机测试系统 [P].

林鸿基 .

中国专利 :CN203310938U ,2013-11-27

[8]

开关机电路及电子设备 [P].

姜琦 ;

唐育辉 ;

沈平 .

中国专利 :CN213934579U ,2021-08-10

[9]

开关机电路及电子设备 [P].

陈志华 ;

王韶华 ;

胡榜 ;

唐克锋 .

中国专利 :CN216718948U ,2022-06-10

[10]

开关机电路及电子设备 [P].

郭世文 ;

杨卉 ;

何桂晓 ;

曹磊 ;

黄文明 ;

吴海全 .

中国专利 :CN218352488U ,2023-01-20

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