自动测试设备和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610832183.2

申请日：

2016-09-19

公开(公告)号：

CN107840109A

公开(公告)日：

2018-03-27

发明(设计)人：

胡晓初潘坚朝叶霞候志平陈桂庆杨小超甄星韦苏

申请人：

申请人地址：

519000 广东省珠海市金湾区红旗镇金粮路2号1#厂房第七层701室

IPC主分类号：

B65G3702

IPC分类号：

B65G4300 B65G4782 B65G4790 G01R3100

代理机构：

北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411

代理人：

吴婧

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-04-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):B65G 37/02 申请日:20160919
2018-03-27	公开	公开

共 50 条

[1]

自动测试设备 [P].

胡晓初 ;

潘坚朝 ;

叶霞 ;

候志平 ;

陈桂庆 ;

杨小超 ;

甄星 ;

韦苏 .

中国专利 :CN206203311U ,2017-05-31

[2]

自动测试设备 [P].

刘寿星 ;

石伟维 ;

杨正康 ;

章慧 .

中国专利 :CN223426804U ,2025-10-10

[3]

插件自动测试设备 [P].

梅强 ;

黄必胜 .

中国专利 :CN212759807U ,2021-03-23

[4]

硅片自动测试设备 [P].

高波 ;

祝伟 .

中国专利 :CN218003503U ,2022-12-09

[5]

自动测试设备和方法 [P].

李冬 ;

邓加文 ;

李家伟 .

中国专利 :CN115113035A ,2022-09-27

[6]

自动测试设备和方法 [P].

彼得·巴伦 ;

元驰 .

日本专利 :CN110908849B ,2024-02-23

[7]

自动测试设备 [P].

王宏声 ;

李振兴 ;

王洪义 ;

郭启升 ;

耿喜平 .

中国专利 :CN107942232A ,2018-04-20

[8]

自动测试设备 [P].

王宏声 ;

李振兴 ;

王洪义 ;

郭启升 ;

耿喜平 .

中国专利 :CN107422249A ,2017-12-01

[9]

自动测试设备 [P].

王宏声 ;

李振兴 ;

王洪义 ;

郭启升 ;

耿喜平 .

中国专利 :CN107422249B ,2024-04-09

[10]

自动测试设备 [P].

王宏声 ;

李振兴 ;

王洪义 ;

郭启升 ;

耿喜平 .

中国专利 :CN207081813U ,2018-03-09

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