基于条纹反射法的反光物体三维形貌测量方法及装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201511005509.6
申请日
2015-12-27
公开(公告)号
CN105387819A
公开(公告)日
2016-03-09
发明(设计)人
张宗华 刘玥 牛振崎 郭佼 黄淑君 高楠
申请人
申请人地址
300132 天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330#
IPC主分类号
G01B1125
IPC分类号
代理机构
天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210
代理人
陈松
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
基于条纹反射法的反光物体三维形貌测量装置 [P]. 
张宗华 ;
刘玥 ;
牛振崎 ;
郭佼 ;
黄淑君 ;
高楠 .
中国专利 :CN205607342U ,2016-09-28
[2]
一种基于条纹反射法的反光物体三维形貌测量方法 [P]. 
孟俊贞 ;
李志萍 ;
高亚伟 ;
轩亚兵 ;
杨小权 ;
王云飞 .
中国专利 :CN117889782A ,2024-04-16
[3]
一种镜面物体三维形貌测量方法及装置 [P]. 
张宗华 ;
王月敏 ;
高楠 ;
孟召宗 .
中国专利 :CN109357632A ,2019-02-19
[4]
一种基于光学条纹投影和反射的三维形貌测量方法及装置 [P]. 
张宗华 ;
刘小红 ;
高楠 .
中国专利 :CN108759721B ,2018-11-06
[5]
基于条纹标定的三维形貌测量方法 [P]. 
孙晨 ;
王云舒 ;
丁天皓 ;
陈巨兵 ;
马少鹏 .
中国专利 :CN113091646A ,2021-07-09
[6]
基于双屏透射显示的镜面物体三维形貌测量方法及装置 [P]. 
张宗华 ;
李月 ;
高楠 ;
孟召宗 .
中国专利 :CN111765851B ,2020-10-13
[7]
自适应编码互补色条纹的高反光物体三维形貌测量方法 [P]. 
张宗华 ;
王颖 ;
高楠 ;
孟召宗 ;
倪育博 .
中国专利 :CN117516417A ,2024-02-06
[8]
基于条纹密度区域分割和校正的物体三维形貌测量方法 [P]. 
严利平 ;
王秋霞 ;
陈本永 ;
黄柳 .
中国专利 :CN112665529B ,2021-04-16
[9]
基于并行四颜色通道的条纹投影三维形貌测量方法及装置 [P]. 
张宗华 ;
王张颖 ;
高楠 .
中国专利 :CN107576280A ,2018-01-12
[10]
一种基于反射激光空间分布的物体三维形貌测量方法 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN113639663B ,2021-11-12