算法的测试方法、装置、电子设备及存储介质

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专利类型
发明
申请号
CN201910421873.2
申请日
2019-05-20
公开(公告)号
CN111968620A
公开(公告)日
2020-11-20
发明(设计)人
陈孝良 艾文 冯大航
申请人
申请人地址
100086 北京市海淀区北四环西路67号3层306室
IPC主分类号
G10L1501
IPC分类号
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
周天宇
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
算法的测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈孝良 ;
艾文 ;
冯大航 .
中国专利 :CN111968620B ,2024-05-28
[2]
算法测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
涂勇军 .
中国专利 :CN113836012A ,2021-12-24
[3]
算法测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
涂勇军 .
中国专利 :CN113836012B ,2024-05-03
[4]
测试算法库的方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
张烨 .
中国专利 :CN108959074B ,2018-12-07
[5]
接口测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘芳 ;
吕小立 ;
刘丽珍 .
中国专利 :CN110348217A ,2019-10-18
[6]
接口测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
张志豪 ;
徐康 .
中国专利 :CN117609035A ,2024-02-27
[7]
算法库的测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
张烨 .
中国专利 :CN108959075A ,2018-12-07
[8]
跟踪算法测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
尚果超 ;
吴扬峰 ;
沈红星 .
中国专利 :CN115588029A ,2023-01-10
[9]
跟踪算法测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
尚果超 ;
吴扬峰 ;
沈红星 .
中国专利 :CN115588029B ,2025-08-22
[10]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王丹 ;
柳宁一 .
中国专利 :CN111782533A ,2020-10-16