灵敏度衰减(desense)测试方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610268571.2

申请日：

2016-04-27

公开(公告)号：

CN106059691B

公开(公告)日：

2016-10-26

发明(设计)人：

潘明争颜为林聂凡

申请人：

申请人地址：

100085 北京市海淀区清河中街68号华润五彩城购物中心二期9层01房间

IPC主分类号：

H04B1730

IPC分类号：

H04B17309

代理机构：

北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138

代理人：

鞠永善

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-11-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101688762264 IPC(主分类):H04B 17/30 专利申请号:2016102685712 申请日:20160427
2018-11-06	授权	授权
2016-10-26	公开	公开

共 50 条

[1]

灵敏度衰减测试方法及装置 [P].

刘嘉男 ;

廖勇 ;

付森 .

中国专利 :CN106253996B ,2016-12-21

[2]

扫描枪按压装置、灵敏度测试装置及灵敏度测试方法 [P].

肖为坚 ;

林魁 .

中国专利 :CN106951803A ,2017-07-14

[3]

灵敏度的测试方法及装置 [P].

陈侃浩 .

中国专利 :CN102833011A ,2012-12-19

[4]

光纤灵敏度测试方法和装置 [P].

吴明埝 ;

沈一春 ;

吴正明 ;

朱明 ;

杨洋 ;

王道根 ;

李松林 ;

陈青青 .

中国专利 :CN117433746A ,2024-01-23

[5]

压电薄膜灵敏度测试方法及设备 [P].

黄锦钊 ;

章哲宇 ;

牛洋洋 .

中国专利 :CN110595686A ,2019-12-20

[6]

压电薄膜灵敏度测试方法及设备 [P].

黄锦钊 ;

章哲宇 ;

牛洋洋 .

中国专利 :CN110595686B ,2024-09-03

[7]

标签灵敏度测试支架 [P].

胡丕专 ;

孙小莉 ;

周杨 .

中国专利 :CN304025962S ,2017-02-08

[8]

基带芯片灵敏度测试方法和装置 [P].

孙倩 ;

刘静 ;

窦路 .

中国专利 :CN108710141A ,2018-10-26

[9]

等效全向灵敏度测试方法和装置 [P].

李文 ;

谢辉 .

中国专利 :CN102237933B ,2011-11-09

[10]

测试系统、敲击灵敏度测试方法及存储介质 [P].

李瑶 ;

张志军 ;

陈思 ;

王兰军 ;

徐奔 .

中国专利 :CN117571116A ,2024-02-20

← 1 2 3 4 5 →