电学测试架

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200920304080.4

申请日：

2009-06-08

公开(公告)号：

CN201477125U

公开(公告)日：

2010-05-19

发明(设计)人：

沈晓明

申请人：

申请人地址：

226200 江苏省启东市汇龙镇幸福一村140号楼103室

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

南京众联专利代理有限公司 32206

代理人：

郭俊玲

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2010-05-19	授权	授权
2013-08-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101504721835 IPC(主分类):G01R 1/04 专利号:ZL2009203040804 申请日:20090608 授权公告日:20100519 终止日期:20120608

共 50 条

[1]

一种电学测试架 [P].

沈晓明 .

中国专利 :CN205353137U ,2016-06-29

[2]

一种电学测试架 [P].

左继红 ;

刘丽丽 .

中国专利 :CN207115822U ,2018-03-16

[3]

一种电学测试用固定架 [P].

彭德奇 .

中国专利 :CN206657036U ,2017-11-21

[4]

一种新型电学测试架 [P].

李亚娟 .

中国专利 :CN207263783U ,2018-04-20

[5]

一种电学测试用固定架 [P].

张德全 .

中国专利 :CN212646758U ,2021-03-02

[6]

一种电学测试架 [P].

丁书凯 .

中国专利 :CN212321674U ,2021-01-08

[7]

一种电学测试架 [P].

王琳 ;

张佳 .

中国专利 :CN223692407U ,2025-12-19

[8]

一种高稳定性电学测试架 [P].

巢云 ;

葛年明 ;

龚秋英 ;

刘义 ;

徐伦 ;

周泉 .

中国专利 :CN207408436U ,2018-05-25

[9]

一种高稳定性电学测试架 [P].

任阳 .

中国专利 :CN203644282U ,2014-06-11

[10]

电学测试结构、半导体结构及电学测试方法 [P].

汪海 .

中国专利 :CN115602663A ,2023-01-13

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