光学元件缺陷激光近场调制检测装置及诱导损伤预测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510398980.X

申请日：

2015-07-09

公开(公告)号：

CN104990930A

公开(公告)日：

2015-10-21

发明(设计)人：

卢兴强孙晓艳雷泽民范滇元

申请人：

申请人地址：

201800 上海市800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N2163 G01J100

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

张泽纯;张宁展

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-10-21	公开	公开
2017-10-20	授权	授权
2015-11-18	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101633525561 IPC(主分类):G01N 21/88 专利申请号:201510398980X 申请日:20150709

共 50 条

[1]

光学元件激光诱导损伤特征瞬态测量装置及检测方法 [P].

李杰 ;

巴荣声 ;

周信达 ;

郑垠波 ;

丁磊 ;

陈宁 ;

徐宏磊 .

中国专利 :CN111829757B ,2020-10-27

[2]

一种光学元件的激光损伤阈值检测装置及方法 [P].

王可 ;

史明忠 .

中国专利 :CN119043666A ,2024-11-29

[3]

薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置 [P].

苏俊宏 ;

徐均琪 ;

梁海锋 ;

杨利红 ;

惠迎雪 ;

杭凌侠 ;

朱昌 .

中国专利 :CN201622245U ,2010-11-03

[4]

一种光学元件激光诱导损伤在线检测装置和检测方法 [P].

刘东 ;

王狮凌 ;

孙焕宇 ;

胡晓波 ;

黄梦辉 ;

卢岸 ;

王玥 ;

韦蓉 .

中国专利 :CN112326685B ,2021-02-05

[5]

一种光学元件表面缺陷检测装置 [P].

王绍治 ;

刘健 ;

隋永新 ;

杨怀江 .

中国专利 :CN107688022A ,2018-02-13

[6]

光学元件的缺陷检测方法和缺陷检测装置 [P].

栗本英治 ;

南功治 .

中国专利 :CN1815206A ,2006-08-09

[7]

光学元件内部缺陷的检测方法及装置 [P].

徐建程 ;

王辉 ;

李勇 ;

范长江 .

中国专利 :CN102288622A ,2011-12-21

[8]

光学晶体元件激光损伤阈值检测装置 [P].

陈明君 ;

李明全 ;

姜伟 ;

姜文斌 ;

陈宽能 .

中国专利 :CN101706444A ,2010-05-12

[9]

薄膜及光学元件激光损伤阈值组合测试装置及测试方法 [P].

苏俊宏 ;

徐均琪 ;

梁海锋 ;

杨利红 ;

惠迎雪 ;

杭凌侠 ;

朱昌 .

中国专利 :CN101718712B ,2010-06-02

[10]

一种结合缺陷增长的光学元件激光多脉冲损伤预测方法 [P].

周平 ;

黄家冀 ;

慕卿 ;

高兴 ;

戴宏迪 .

中国专利 :CN118553322A ,2024-08-27

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