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电容检测方法及电容检测装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202210077211.X
申请日
:
2022-01-24
公开(公告)号
:
CN114113801B
公开(公告)日
:
2022-03-01
发明(设计)人
:
詹成旺
张忠
祝尊震
谢伟军
申请人
:
申请人地址
:
200000 上海市浦东新区自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
IPC主分类号
:
G01R2726
IPC分类号
:
G01V300
代理机构
:
深圳市嘉勤知识产权代理有限公司 44651
代理人
:
董琳
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-01
公开
公开
2022-06-21
授权
授权
2022-03-18
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/26 申请日:20220124
共 50 条
[1]
一种电容检测方法及电容检测装置
[P].
刘业凡
论文数:
0
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0
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0
刘业凡
;
郭辉
论文数:
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郭辉
;
张忠
论文数:
0
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0
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0
张忠
;
程涛
论文数:
0
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0
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0
程涛
;
谢伟军
论文数:
0
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0
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0
谢伟军
.
中国专利
:CN115542015A
,2022-12-30
[2]
电容检测电路及电容检测方法
[P].
张允武
论文数:
0
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0
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0
张允武
;
陆扬扬
论文数:
0
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0
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0
陆扬扬
;
李凯
论文数:
0
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0
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0
李凯
.
中国专利
:CN113406396A
,2021-09-17
[3]
电容检测电路及电容检测方法
[P].
李志疆
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州芯位感科技有限公司
苏州芯位感科技有限公司
李志疆
;
吴永聪
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州芯位感科技有限公司
苏州芯位感科技有限公司
吴永聪
.
中国专利
:CN119414118A
,2025-02-11
[4]
电容检测电路及电容检测方法
[P].
张允武
论文数:
0
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0
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机构:
国硅集成电路技术(无锡)有限公司
国硅集成电路技术(无锡)有限公司
张允武
;
陆扬扬
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0
机构:
国硅集成电路技术(无锡)有限公司
国硅集成电路技术(无锡)有限公司
陆扬扬
;
李凯
论文数:
0
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0
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机构:
国硅集成电路技术(无锡)有限公司
国硅集成电路技术(无锡)有限公司
李凯
.
中国专利
:CN113406396B
,2024-02-13
[5]
电容检测方法及电容检测装置
[P].
程涛
论文数:
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程涛
;
刘业凡
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0
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刘业凡
.
中国专利
:CN115656640A
,2023-01-31
[6]
电容检测方法及电容检测装置
[P].
程涛
论文数:
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0
机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
程涛
;
高红玉
论文数:
0
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机构:
上海艾为电子技术股份有限公司
上海艾为电子技术股份有限公司
高红玉
.
中国专利
:CN115509396B
,2025-06-24
[7]
电容检测方法及电容检测装置
[P].
程涛
论文数:
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程涛
;
高红玉
论文数:
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高红玉
.
中国专利
:CN115509396A
,2022-12-23
[8]
电容检测方法及电容检测装置
[P].
高红玉
论文数:
0
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高红玉
;
程涛
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0
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程涛
;
赵旭
论文数:
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赵旭
;
贾六伟
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0
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0
贾六伟
.
中国专利
:CN115639410A
,2023-01-24
[9]
电容检测方法及装置
[P].
薛珂
论文数:
0
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薛珂
;
徐红如
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徐红如
;
李曙光
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0
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0
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0
李曙光
.
中国专利
:CN111257648A
,2020-06-09
[10]
电容检测方法及电容检测电路
[P].
谢循
论文数:
0
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0
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谢循
;
张耀国
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张耀国
;
方飞
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方飞
;
王广
论文数:
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0
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0
王广
.
中国专利
:CN102749525A
,2012-10-24
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