集成电路验证装置、集成电路验证方法及非临时计算机可读介质

被引：0

申请号：

CN202210176660.X

申请日：

2022-02-25

公开(公告)号：

CN115509829A

公开(公告)日：

2022-12-23

发明(设计)人：

小岛洋平

申请人：

申请人地址：

日本东京

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287

代理人：

杨林勳

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-23	公开	公开
2023-01-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/22 申请日:20220225

共 50 条

[1]

集成电路设计方法与其非瞬时计算机可读介质 [P].

蔡宜青 ;

林立镒 ;

张云智 ;

高淑怡 .

中国专利 :CN112084742B ,2024-05-17

[2]

集成电路设计方法与其非瞬时计算机可读介质 [P].

蔡宜青 ;

林立镒 ;

张云智 ;

高淑怡 .

中国专利 :CN112084742A ,2020-12-15

[3]

集成电路测试方法、计算机可读介质以及集成电路测试装置 [P].

顾耀 ;

王秀军 ;

孙广辉 ;

汪海潮 ;

叶锋 .

中国专利 :CN112462234B ,2024-11-29

[4]

集成电路测试方法、计算机可读介质以及集成电路测试装置 [P].

顾耀 ;

王秀军 ;

孙广辉 ;

汪海潮 ;

叶锋 .

中国专利 :CN112462234A ,2021-03-09

[5]

方法、集成电路及计算机可读存储介质 [P].

王雨豪 ;

薛菲 ;

韩伟 ;

牛迪民 ;

段立德 ;

郑宏忠 ;

李双辰 .

中国专利 :CN114398300B ,2024-04-26

[6]

集成电路处理方法、集成电路验证方法、装置及电子设备 [P].

王芳 ;

沈旭 ;

魏炽频 ;

杨晶晶 ;

谭帆 .

中国专利 :CN112417800B ,2021-02-26

[7]

集成电路中断验证方法、装置、电子设备以及计算机可读存储介质 [P].

孙成思 ;

何瀚 ;

王灿 ;

楼煌辉 .

中国专利 :CN119902938A ,2025-04-29

[8]

可读存储介质和电路部件验证及集成电路装置的制造方法 [P].

片山功 .

中国专利 :CN1378286A ,2002-11-06

[9]

集成电路前端验证方法 [P].

李风志 ;

陆崇心 ;

戴绍新 ;

刘松 .

中国专利 :CN102622471B ,2012-08-01

[10]

集成电路验证方法及其系统 [P].

张弢 ;

吕涛 ;

李晓维 .

中国专利 :CN101794330A ,2010-08-04

← 1 2 3 4 5 →