一种开关元件寿命测试方法及测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110527658.8

申请日：

2021-05-14

公开(公告)号：

CN113109039A

公开(公告)日：

2021-07-13

发明(设计)人：

董泽胤涂世顺张浩龙智明曾凡胜杨广明

申请人：

申请人地址：

400039 重庆市九龙坡区格力路1号

IPC主分类号：

G01M1300

IPC分类号：

代理机构：

天津三元专利商标代理有限责任公司 12203

代理人：

李曼

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 13/00 申请日:20210514
2021-07-13	公开	公开

共 50 条

[1]

一种开关元件寿命测试装置 [P].

董泽胤 ;

涂世顺 ;

张浩 ;

龙智明 ;

曾凡胜 ;

杨广明 .

中国专利 :CN215525027U ,2022-01-14

[2]

一种电器开关元件的弯曲测试装置 [P].

刘开成 .

中国专利 :CN108051317A ,2018-05-18

[3]

一种交直流小容量开关元件测试装置 [P].

郑立新 ;

黄小雷 ;

张学军 ;

苏金州 ;

陈金汕 ;

魏远明 .

中国专利 :CN202649415U ,2013-01-02

[4]

一种交直流小容量开关元件测试装置 [P].

郑立新 ;

黄小雷 ;

张学军 ;

苏金州 ;

陈金汕 ;

魏远明 .

中国专利 :CN102636746A ,2012-08-15

[5]

插座基板上具有开关元件的测试装置 [P].

郑文杰 .

中国专利 :CN101452030A ,2009-06-10

[6]

一种压力开关寿命测试装置及测试方法 [P].

陈俊刚 ;

张松 ;

笪文飞 ;

王枫 .

中国专利 :CN119469702A ,2025-02-18

[7]

寿命测试装置及寿命测试方法 [P].

高磊 ;

黎林峰 ;

黄海荣 ;

郭志龙 ;

田树超 .

中国专利 :CN113267358B ,2021-08-17

[8]

开关寿命测试装置 [P].

王耀 .

中国专利 :CN204302454U ,2015-04-29

[9]

开关寿命测试装置 [P].

金晓晨 .

中国专利 :CN214251497U ,2021-09-21

[10]

开关寿命测试装置 [P].

周明杰 ;

胡波 .

中国专利 :CN103852720A ,2014-06-11

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