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表面电阻测试治具及测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201811481842.8
申请日
:
2018-12-05
公开(公告)号
:
CN109655666A
公开(公告)日
:
2019-04-19
发明(设计)人
:
傅妍蓉
陈杰
赵家冬
申请人
:
申请人地址
:
518055 广东省深圳市南山区北环路高发工业区8#厂房
IPC主分类号
:
G01R2702
IPC分类号
:
G01R104
代理机构
:
深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) 44314
代理人
:
王少虹;张秋红
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-04-19
公开
公开
2019-05-14
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 27/02 申请日:20181205
共 50 条
[1]
表面电阻测试治具
[P].
傅妍蓉
论文数:
0
引用数:
0
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0
傅妍蓉
;
陈杰
论文数:
0
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0
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0
陈杰
;
赵家冬
论文数:
0
引用数:
0
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0
赵家冬
.
中国专利
:CN209513911U
,2019-10-18
[2]
一种表面电阻测试治具
[P].
黄郁
论文数:
0
引用数:
0
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0
黄郁
.
中国专利
:CN207472972U
,2018-06-08
[3]
一种表面电阻测试治具
[P].
陈俊
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海爵企电子科技有限公司
上海爵企电子科技有限公司
陈俊
;
李俊锋
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海爵企电子科技有限公司
上海爵企电子科技有限公司
李俊锋
;
袁春俭
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海爵企电子科技有限公司
上海爵企电子科技有限公司
袁春俭
;
王蕴博
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海爵企电子科技有限公司
上海爵企电子科技有限公司
王蕴博
;
陈绒
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海爵企电子科技有限公司
上海爵企电子科技有限公司
陈绒
.
中国专利
:CN119804982A
,2025-04-11
[4]
表面电阻测试仪
[P].
张海华
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
广西菱顺科技有限公司
广西菱顺科技有限公司
张海华
.
中国专利
:CN309682077S
,2025-12-19
[5]
表面电阻测试仪
[P].
达代石
论文数:
0
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0
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0
达代石
.
中国专利
:CN203025250U
,2013-06-26
[6]
表面电阻测试仪
[P].
钱乐
论文数:
0
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0
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钱乐
.
中国专利
:CN301117078D
,2010-01-20
[7]
表面电阻测试仪
[P].
文明明
论文数:
0
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0
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0
机构:
埃用仪器(苏州)有限公司
埃用仪器(苏州)有限公司
文明明
;
简品
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0
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0
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0
机构:
埃用仪器(苏州)有限公司
埃用仪器(苏州)有限公司
简品
.
中国专利
:CN308583581S
,2024-04-16
[8]
一种磁芯表面电阻测试治具
[P].
王鑫
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
江西尚朋电子科技有限公司
江西尚朋电子科技有限公司
王鑫
;
王泽贤
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0
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机构:
江西尚朋电子科技有限公司
江西尚朋电子科技有限公司
王泽贤
;
易欢
论文数:
0
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机构:
江西尚朋电子科技有限公司
江西尚朋电子科技有限公司
易欢
;
窦海之
论文数:
0
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机构:
江西尚朋电子科技有限公司
江西尚朋电子科技有限公司
窦海之
.
中国专利
:CN221650487U
,2024-09-03
[9]
一种表面电阻测试探头及其测试装置及表面电阻测试方法
[P].
李荐
论文数:
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李荐
;
黄祖琼
论文数:
0
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黄祖琼
;
周宏明
论文数:
0
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周宏明
;
王利华
论文数:
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0
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0
王利华
.
中国专利
:CN105866548B
,2016-08-17
[10]
电阻测试治具及电阻测试仪
[P].
周素上
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
周素上
;
袁成兵
论文数:
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引用数:
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机构:
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
袁成兵
;
高哲
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机构:
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
奥芯半导体科技(太仓)有限公司
高哲
.
中国专利
:CN223166826U
,2025-07-29
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