集成电路布局设计的检验方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810084523.3

申请日：

2008-03-21

公开(公告)号：

CN101539954B

公开(公告)日：

2009-09-23

发明(设计)人：

苏士益

申请人：

申请人地址：

中国台湾台南县

IPC主分类号：

G06F1750

IPC分类号：

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

梁挥;祁建国

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-09-23	公开	公开
2011-01-19	授权	授权
2009-11-11	实质审查的生效	实质审查的生效

共 50 条

[1]

集成电路布局的检验方法 [P].

苏士益 .

中国专利 :CN101539953B ,2009-09-23

[2]

集成电路布局设计方法 [P].

张书瑜 ;

徐世荣 ;

谢瀚颉 ;

罗宇诚 ;

蔡政宇 .

中国专利 :CN111666732A ,2020-09-15

[3]

集成电路以及设计集成电路的布局的方法 [P].

徐在禹 ;

金夏永 ;

卢贤定 .

中国专利 :CN105701268B ,2016-06-22

[4]

集成电路和设计集成电路的布局的方法 [P].

金珍泰 ;

金昌汎 .

中国专利 :CN105608243A ,2016-05-25

[5]

集成电路以及集成电路布局设计产生方法 [P].

杨宇滔 ;

周文昇 ;

彭永州 .

中国专利 :CN110970428B ,2025-03-28

[6]

集成电路的布局设计制造方法 [P].

胡致嘉 ;

陈明发 ;

詹森博 ;

江孟纬 .

中国专利 :CN113380784A ,2021-09-10

[7]

获得集成电路布局设计的方法 [P].

谢明灯 ;

陈逸男 ;

刘献文 .

中国专利 :CN102779725A ,2012-11-14

[8]

集成电路的布局设计制造方法 [P].

胡致嘉 ;

陈明发 ;

詹森博 ;

江孟纬 .

中国专利 :CN113380784B ,2024-10-18

[9]

集成电路器件、集成电路布局和修改集成电路布局的方法 [P].

陈瑞麟 ;

张峰铭 ;

王屏薇 ;

吴于贝 ;

王志庆 .

中国专利 :CN119031692A ,2024-11-26

[10]

集成电路器件、集成电路布局和生成集成电路布局的方法 [P].

方上维 ;

曾健庭 ;

郑仪侃 ;

林彦宏 ;

黄圣丰 .

中国专利 :CN120187104A ,2025-06-20

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