一种受激发射损耗荧光寿命超分辨成像装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811414827.1

申请日：

2018-11-26

公开(公告)号：

CN109211871A

公开(公告)日：

2019-01-15

发明(设计)人：

严伟屈军乐王璐玮叶彤

申请人：

申请人地址：

518060 广东省深圳市南山区南海大道3688号

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

G01N2101

代理机构：

深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312

代理人：

袁文英

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-02-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20181126
2021-07-30	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 21/64 申请公布日:20190115
2019-01-15	公开	公开

共 50 条

[1]

一种基于受激发射损耗的超分辨荧光寿命成像方法和装置 [P].

葛剑虹 ;

蔡欢庆 ;

匡翠方 ;

刘旭 ;

王毅 .

中国专利 :CN103163106B ,2013-06-19

[2]

基于受激发射损耗与双光子激发荧光的超分辨成像探头 [P].

郭杭涛 ;

刘新明 ;

朱小钦 .

中国专利 :CN205758517U ,2016-12-07

[3]

基于低功率受激发射损耗的超分辨成像方法及成像系统 [P].

严伟 ;

王璐玮 ;

屈军乐 ;

王佳林 ;

张佳 .

中国专利 :CN111579486B ,2020-08-25

[4]

受激发射损耗显微成像方法及装置 [P].

周哲海 ;

祝连庆 ;

董明利 ;

张荫民 ;

王君 ;

那云虓 ;

潘志康 .

中国专利 :CN103364384B ,2013-10-23

[5]

基于受激发射损耗特性的超分辨率显微成像装置和方法 [P].

张晗 ;

李轻如 .

中国专利 :CN107490568A ,2017-12-19

[6]

激光受激发射损耗三维超分辨差动共焦成像方法与装置 [P].

邱丽荣 ;

赵维谦 ;

王允 .

中国专利 :CN104482881B ,2015-04-01

[7]

一种实现光束快速合束的受激发射损耗超分辨显微镜 [P].

张运海 ;

昌剑 ;

杨皓旻 ;

魏通达 ;

季林 .

中国专利 :CN109188668A ,2019-01-11

[8]

受激发射损耗显微镜装置 [P].

泷口优 .

中国专利 :CN106133580B ,2016-11-16

[9]

使用荧光显微镜利用受激发射损耗对样本成像的方法 [P].

约纳斯·弗林 .

中国专利 :CN111512207A ,2020-08-07

[10]

一种受激发射损耗显微镜的成像系统 [P].

严伟 ;

屈军乐 ;

王璐玮 ;

叶彤 .

中国专利 :CN109633881A ,2019-04-16

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