一种半高门电子锁测试装置

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专利类型
发明
申请号
CN201811559714.0
申请日
2018-12-20
公开(公告)号
CN109489960A
公开(公告)日
2019-03-19
发明(设计)人
何任荣
申请人
申请人地址
511000 广东省广州市番禺区石楼镇国贸大道南636之一
IPC主分类号
G01M1300
IPC分类号
代理机构
广州粤高专利商标代理有限公司 44102
代理人
罗晓林;杨桂洋
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种半高门电子锁测试装置 [P]. 
何任荣 .
中国专利 :CN209979204U ,2020-01-21
[2]
一种电子锁测试装置 [P]. 
王万里 ;
杨清治 .
中国专利 :CN207212012U ,2018-04-10
[3]
一种电子锁组件的测试装置 [P]. 
孙雍 .
中国专利 :CN212031614U ,2020-11-27
[4]
一种电子锁闭合装置及测试装置 [P]. 
杨磊 ;
彭如谋 .
中国专利 :CN209296336U ,2019-08-23
[5]
一种电子锁闭合装置及测试装置 [P]. 
杨磊 ;
房建党 ;
曹学军 ;
陆智源 .
中国专利 :CN209166850U ,2019-07-26
[6]
一种电子锁功能测试装置 [P]. 
徐罕 .
中国专利 :CN220568394U ,2024-03-08
[7]
电子锁测试装置及系统 [P]. 
张泽 .
中国专利 :CN205038057U ,2016-02-17
[8]
电子锁测试装置及系统 [P]. 
张泽 .
中国专利 :CN105067367A ,2015-11-18
[9]
一种电子锁测试装置及系统 [P]. 
王斐 .
中国专利 :CN209373001U ,2019-09-10
[10]
电子锁的指纹质量测试装置 [P]. 
闫亮 ;
肖化明 ;
汪铁汉 .
中国专利 :CN204044269U ,2014-12-24