老化测试台的导电件

被引:0
专利类型
实用新型
申请号
CN200920298076.1
申请日
2009-12-28
公开(公告)号
CN201804051U
公开(公告)日
2011-04-20
发明(设计)人
严小斌 薛振江 张鑫
申请人
申请人地址
215121 江苏省苏州市工业园区唯亭双马村民营厂区2幢
IPC主分类号
G01R3100
IPC分类号
代理机构
苏州华博知识产权代理有限公司 32232
代理人
孙敏
法律状态
避免重复授权放弃专利权
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
老化测试台的导电件 [P]. 
严小斌 ;
薛振江 ;
张鑫 .
中国专利 :CN101793925B ,2010-08-04
[2]
老化测试台 [P]. 
严小斌 ;
薛振江 ;
张鑫 .
中国专利 :CN201812001U ,2011-04-27
[3]
老化测试台 [P]. 
严小斌 ;
薛振江 ;
张鑫 .
中国专利 :CN101793926A ,2010-08-04
[4]
老化测试台 [P]. 
杨道耀 ;
杜昊 .
中国专利 :CN305171518S ,2019-05-21
[5]
旋转开关老化测试台 [P]. 
李术林 .
中国专利 :CN209570672U ,2019-11-01
[6]
条灯老化测试台 [P]. 
虞杭新 ;
王颖 .
中国专利 :CN202502231U ,2012-10-24
[7]
LED老化测试台 [P]. 
王庆勋 .
中国专利 :CN305885381S ,2020-06-30
[8]
电机老化测试台 [P]. 
吴守县 .
中国专利 :CN307723928S ,2022-12-13
[9]
烤箱旋转开关老化测试台 [P]. 
李术林 .
中国专利 :CN209570671U ,2019-11-01
[10]
一种老化测试台 [P]. 
甘佳佳 ;
吴志祥 ;
何宇 ;
霍波波 ;
司方建 .
中国专利 :CN209182359U ,2019-07-30