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横向塞曼双频激光直线度/同轴度测量装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN01134379.6
申请日
:
2001-11-02
公开(公告)号
:
CN1417556A
公开(公告)日
:
2003-05-14
发明(设计)人
:
殷纯永
陈强华
吴健
申请人
:
申请人地址
:
100084北京市海淀区清华园清华大学
IPC主分类号
:
G01B1126
IPC分类号
:
代理机构
:
北京清亦华专利事务所
代理人
:
廖元秋
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2005-05-04
授权
授权
2008-12-31
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2003-05-14
公开
公开
2004-10-27
实质审查的生效
实质审查的生效
共 50 条
[1]
二维横向塞曼双频激光直线度/同轴度测量装置
[P].
蒋弘
论文数:
0
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蒋弘
;
吴健
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吴健
;
陈强华
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陈强华
;
柳忠尧
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柳忠尧
;
李睿颖
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0
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李睿颖
.
中国专利
:CN100570276C
,2008-07-02
[2]
激光直线度/同轴度测量装置
[P].
蒋弘
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蒋弘
;
吴健
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吴健
.
中国专利
:CN101915560A
,2010-12-15
[3]
一种激光直线度和位移的测量装置
[P].
蒋弘
论文数:
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蒋弘
;
吴健
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吴健
.
中国专利
:CN103308004B
,2013-09-18
[4]
基于双频干涉原理的直线度及其位置的测量方法
[P].
陈本永
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陈本永
;
张恩政
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张恩政
;
严利平
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严利平
;
杨涛
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杨涛
;
周砚江
论文数:
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周砚江
.
中国专利
:CN101581576A
,2009-11-18
[5]
基于双频干涉原理的直线度及其位置的测量装置
[P].
陈本永
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陈本永
;
张恩政
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张恩政
;
严利平
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严利平
;
杨涛
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杨涛
;
周砚江
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0
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周砚江
.
中国专利
:CN101581577A
,2009-11-18
[6]
直线度误差和位置同时测量的检测装置
[P].
陈宁
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陈宁
;
郭钢祥
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郭钢祥
;
郭斌
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郭斌
;
王超
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王超
;
谢昊
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谢昊
.
中国专利
:CN217786099U
,2022-11-11
[7]
激光直线度测量仪
[P].
师立刚
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师立刚
;
于立群
论文数:
0
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于立群
.
中国专利
:CN213041185U
,2021-04-23
[8]
长导轨直线度测量装置
[P].
杨宝喜
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杨宝喜
;
李璟
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李璟
;
胡小邦
论文数:
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0
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胡小邦
;
侯莉颖
论文数:
0
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侯莉颖
;
黄立华
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黄立华
;
黄惠杰
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0
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0
黄惠杰
.
中国专利
:CN103673933A
,2014-03-26
[9]
一种基于双频干涉原理的直线度及其位置的测量装置
[P].
陈本永
论文数:
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0
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0
陈本永
;
张恩政
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0
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0
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张恩政
;
严利平
论文数:
0
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0
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严利平
;
杨涛
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0
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杨涛
;
周砚江
论文数:
0
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0
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周砚江
.
中国专利
:CN201413130Y
,2010-02-24
[10]
直线度误差和位置同时测量的检测装置及测试方法
[P].
陈宁
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机构:
浙江省计量科学研究院
浙江省计量科学研究院
陈宁
;
论文数:
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机构:
郭钢祥
;
郭斌
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机构:
浙江省计量科学研究院
浙江省计量科学研究院
郭斌
;
王超
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机构:
浙江省计量科学研究院
浙江省计量科学研究院
王超
;
谢昊
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机构:
浙江省计量科学研究院
浙江省计量科学研究院
谢昊
.
中国专利
:CN115127450B
,2024-10-29
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