压延过程中压延材料表面周期性缺陷的检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201510952057.6
申请日
2015-12-17
公开(公告)号
CN105572143A
公开(公告)日
2016-05-11
发明(设计)人
甘胜丰 杨莉 雷维新 孙林 袁荣奇 杨元淦
申请人
申请人地址
430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新二路129号
IPC主分类号
G01N21892
IPC分类号
代理机构
武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222
代理人
胡艳
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
检测带钢表面周期性缺陷的方法 [P]. 
吉银生 ;
祝兵权 ;
叶理德 ;
徐海珍 ;
任韬 ;
张凯 ;
时文飞 ;
蔡炜 ;
夏志 .
中国专利 :CN120755194A ,2025-10-10
[2]
导热材料压延过程中的边缘切割装置 [P]. 
杨小王 ;
韩惠琴 ;
刘东顺 .
中国专利 :CN202499588U ,2012-10-24
[3]
周期性缺陷检测装置及其方法 [P]. 
腰原敬弘 ;
加藤宏晴 ;
长栋章生 .
中国专利 :CN102007400B ,2011-04-06
[4]
带钢表面周期性缺陷的周期测量装置及方法 [P]. 
来建雄 ;
周斌 ;
沈家超 ;
孙国敏 .
中国专利 :CN110763693B ,2020-02-07
[5]
周期性纹理图像中缺陷的检测方法和装置 [P]. 
陈斌 ;
廖世鹏 ;
张兴杰 ;
于勇 ;
王竞爽 .
中国专利 :CN102279191A ,2011-12-14
[6]
片状材料的周期性缺陷检测方法、装置、设备以及介质 [P]. 
葛铭 ;
魏鹏 ;
魏江 ;
沈井学 .
中国专利 :CN117007611B ,2024-01-09
[7]
一种导热材料压延过程中的边缘切割装置 [P]. 
袁谷文 .
中国专利 :CN210824768U ,2020-06-23
[8]
周期性结构的周期提取方法及晶圆缺陷检测方法 [P]. 
刘耀阳 ;
徐健 .
中国专利 :CN115393303A ,2022-11-25
[9]
芯片制造过程中的缺陷检测方法 [P]. 
吴苑 .
中国专利 :CN109211924A ,2019-01-15
[10]
芯片制造过程中的缺陷检测方法 [P]. 
孙万峰 ;
蔡恩静 ;
周俊 .
中国专利 :CN110867391B ,2020-03-06