腐蚀电位分布测定仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN85101940

申请日：

1985-04-01

公开(公告)号：

CN85101940A

公开(公告)日：

1986-08-27

发明(设计)人：

甘复兴姚禄安涂汉文张哲

申请人：

申请人地址：

湖北省武汉市武昌珞珈山

IPC主分类号：

G01N2726

IPC分类号：

代理机构：

武汉大学专利事务所

代理人：

柳传忠

法律状态：

被视为撤回的申请

国省代码：

引用

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
1988-05-25	被视为撤回的申请	被视为撤回的申请
1986-08-27	公开	公开

共 50 条

[1]

内壁形状测定仪 [P].

赵克枫 ;

唐立明 .

中国专利 :CN2077114U ,1991-05-15

[2]

铜片腐蚀测定仪 [P].

郝晓辉 ;

董立建 ;

班慧昭 ;

李莉 ;

王培 ;

唐绍泉 ;

常昊天 ;

古忠维 ;

任永振 ;

裴鑫杰 ;

柴晓华 ;

王娟 ;

田超 ;

叶佳佳 ;

胡永祥 ;

赵华江 .

中国专利 :CN117969385A ,2024-05-03

[3]

粒径分布测定仪 [P].

大角雅幸 ;

荒木基成 ;

熊内智哉 .

中国专利 :CN303789728S ,2016-08-10

[4]

粒径分布测定仪 [P].

三宅小百合 ;

岛充子 ;

箕轮大辉 ;

滨田哲 ;

立胁康弘 ;

坪冈彻 .

日本专利 :CN309478518S ,2025-09-05

[5]

纸张匀度测定仪 [P].

李德库 ;

洪钧 ;

李永奎 .

中国专利 :CN2079754U ,1991-06-26

[6]

风流参数测定仪 [P].

贾安民 ;

陈宜华 ;

吴将有 ;

吴冷峻 ;

祝怡斌 .

中国专利 :CN2453395Y ,2001-10-10

[7]

耐寒系数测定仪 [P].

郭仕令 .

中国专利 :CN207516175U ,2018-06-19

[8]

平流式膜表面电位测定仪 [P].

吴礼光 .

中国专利 :CN1808149A ,2006-07-26

[9]

氧化还原电位测定仪校准装置 [P].

贾会 ;

许建军 ;

张宏超 ;

孙晓萍 ;

孟洁 ;

冯帅博 ;

李琛 ;

尚梦帆 ;

王新新 ;

杨宇 ;

唐博 .

中国专利 :CN212989232U ,2021-04-16

[10]

平流式膜表面电位测定仪 [P].

吴礼光 .

中国专利 :CN2898842Y ,2007-05-09

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