超声波检测用缺陷模拟比对试块

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320431131.6

申请日：

2013-07-17

公开(公告)号：

CN203422355U

公开(公告)日：

2014-02-05

发明(设计)人：

李述亭安发顺

申请人：

申请人地址：

310013 浙江省杭州市天目山路222号

IPC主分类号：

G01N2930

IPC分类号：

代理机构：

杭州丰禾专利事务所有限公司 33214

代理人：

曹康华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-02-05	授权	授权
2016-09-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101677700286 IPC(主分类):G01N 29/30 专利号:ZL2013204311316 申请日:20130717 授权公告日:20140205 终止日期:20150717

共 50 条

[1]

一种超声波检测用缺陷模拟比对试块 [P].

李述亭 ;

安发顺 .

中国专利 :CN203422356U ,2014-02-05

[2]

轴瓦超声波检测模拟试块 [P].

吴建明 ;

季伟勤 ;

季刚 ;

杨晓冬 ;

陈凌岚 ;

顾军 ;

邢丽 .

中国专利 :CN202916246U ,2013-05-01

[3]

一种超声波检测用比对试块 [P].

李述亭 ;

安发顺 .

中国专利 :CN203422357U ,2014-02-05

[4]

一种超声波检测比对试块 [P].

张智勇 ;

张宇 ;

于雷 ;

张华 ;

丛志宇 .

中国专利 :CN202133644U ,2012-02-01

[5]

管道超声波检测模拟试块 [P].

林德源 ;

陈朝阳 ;

江祖瑄 ;

洪毅成 .

中国专利 :CN301981557S ,2012-07-11

[6]

一种超声波检测用比对试块 [P].

李述亭 ;

安发顺 .

中国专利 :CN103412055B ,2013-11-27

[7]

超声波缺陷试块 [P].

文祥 ;

蔚道祥 ;

陈庆诚 ;

司俊 .

中国专利 :CN306594860S ,2021-06-08

[8]

超声波缺陷试块 [P].

文祥 ;

蔚道祥 ;

陈庆诚 ;

任彬 .

中国专利 :CN306594862S ,2021-06-08

[9]

超声波缺陷试块 [P].

文祥 ;

陈庆诚 ;

蔚道祥 ;

胡坊宇 .

中国专利 :CN306594864S ,2021-06-08

[10]

一种缺陷模拟比对试块 [P].

李述亭 ;

安发顺 .

中国专利 :CN203422354U ,2014-02-05

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