一种质量测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111241811.7

申请日：

2021-10-25

公开(公告)号：

CN114116450A

公开(公告)日：

2022-03-01

发明(设计)人：

夏春梅

申请人：

申请人地址：

100193 北京市海淀区东北旺西路8号院23号楼4层402-1室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

代理机构：

北京善任知识产权代理有限公司 11650

代理人：

李梅香

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-03-18	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20211025
2022-03-01	公开	公开

共 50 条

[1]

业务质量测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

殷书宝 ;

林旺 ;

冯永晖 .

:CN120825417A ,2025-10-21

[2]

网络质量测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

龚尹平 ;

曹胜勇 ;

彭皓 ;

蔡智慧 ;

王超 ;

章革平 ;

李毅 ;

刘胜平 ;

周志明 ;

刘印 ;

周旭文 ;

黄斯炜 .

中国专利 :CN115086199A ,2022-09-20

[3]

软件质量测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

黄佳鑫 ;

张赛男 .

中国专利 :CN114490349A ,2022-05-13

[4]

网络质量测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

龚尹平 ;

曹胜勇 ;

彭皓 ;

蔡智慧 ;

王超 ;

章革平 ;

李毅 ;

刘胜平 ;

周志明 ;

刘印 ;

周旭文 ;

黄斯炜 .

中国专利 :CN115086199B ,2024-07-02

[5]

信号质量的测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

刘聖福 .

中国专利 :CN118538283A ,2024-08-23

[6]

一种软件质量测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张南 ;

陈洪涛 ;

许鹏 ;

戚依楠 ;

赵彦 .

中国专利 :CN113760705A ,2021-12-07

[7]

一种质量分析方法、电子设备及存储介质 [P].

王天龙 ;

齐以星 ;

邵雪莹 ;

王闯 ;

李合顺 ;

彭伟 ;

闫冰 .

中国专利 :CN118233318A ,2024-06-21

[8]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

潘黎明 .

中国专利 :CN114490620A ,2022-05-13

[9]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

潘黎明 .

中国专利 :CN114490620B ,2024-10-29

[10]

一种存储设备质量检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

唐政 ;

顾洪洋 ;

曹成 ;

王璞 .

中国专利 :CN120727075A ,2025-09-30

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