一种通信芯片性能检测装置

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专利类型
实用新型
申请号
CN201821637767.5
申请日
2018-10-10
公开(公告)号
CN208782820U
公开(公告)日
2019-04-23
发明(设计)人
袁晓露
申请人
申请人地址
214000 江苏省无锡市新吴区净慧东道66号5号楼5409室
IPC主分类号
H04B1700
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
一种通信芯片性能检测装置 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN213661632U ,2021-07-09
[2]
一种通信芯片性能检测装置 [P]. 
刘耀坤 .
中国专利 :CN213302441U ,2021-05-28
[3]
一种控制芯片性能检测装置 [P]. 
杨其龙 .
中国专利 :CN223377347U ,2025-09-23
[4]
一种芯片的性能检测装置 [P]. 
陈海泉 ;
林永强 ;
陈祥隽 ;
张建伟 ;
王学东 .
中国专利 :CN218381119U ,2023-01-24
[5]
一种激光芯片光电性能检测装置 [P]. 
赵亮 ;
涂洪森 ;
王志刚 ;
刘才勇 .
中国专利 :CN212082781U ,2020-12-04
[6]
一种恒流芯片性能检测装置 [P]. 
宋志华 ;
宁平平 ;
汪艳彬 .
中国专利 :CN221326701U ,2024-07-12
[7]
一种芯片性能检测装置 [P]. 
石鹏 .
中国专利 :CN222050385U ,2024-11-22
[8]
芯片性能检测系统及其芯片性能检测装置 [P]. 
陈文志 ;
黎理明 ;
黎理杰 .
中国专利 :CN213903719U ,2021-08-06
[9]
一种半导体芯片电性能检测装置 [P]. 
邵琪 ;
郑伟鹏 ;
陈泽扬 .
中国专利 :CN222653076U ,2025-03-21
[10]
一种冷却芯片生产用性能检测装置 [P]. 
徐纯洁 .
中国专利 :CN218098966U ,2022-12-20